机构设计差分析_SVV.pptxVIP

Prepared by: Johnny.qin Date: 2018-Mar-22 Version: V1.0;主要内容;统计学应用于公差分析的背景 这部分主要目的是介绍统计学应用于公差分析的背景，强调加工制造能力的重要性。;变异;变异的控制;柱状图;变异的一般分布图;;正态分布的参数;总体参数 m = 总体平均值 s = 总体标准差;Process variation 3s;一般公差分析的理论 这部分主要是说明怎样应用公差分析这个工具，去确保产品适合最终确定的产品功能和品质的要求的过程。;公差分析的优点;怎么地方使用公差分析 ?;堆叠公差分析过程;一些产品要求的例子: 装配要求 换壳；无固定的配对组装（多套模具或模穴） 功能要求 电子方面；PWB与弹片的可靠接触 结构方面；良好的滑动结构，翻盖结构，或机构装置 品质要求 外观；外壳与按键之间的间隙 其他; 良好的运动或一些奇怪的杂音，零件松动;零件 3;;名义值间隙是:;怎样计算间隙的变异 ? 一般应用比较多的公差分析模式是： 极值法 (Worst Case)，简称WC 验证 100 % 性能 简单并且最保守的手法 用于零件数量少的情况 用于产量不大的零件 统计法(Root Sum of Squares),简称RSS 统计手法，假设名义值在大批量加工零件的尺寸中心值 用于较多的零件或尺寸堆叠