X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO.PDFVIP

２０１５年９月 岩　矿　测　试 Ｖｏｌ．３４，Ｎｏ．５ Ｓｅｐｔｅｍｂｅｒ２０１５ ＲＯＣＫＡＮＤＭＩＮＥＲＡＬＡＮＡＬＹＳＩＳ ５６５～５６９ 文章编号：０２５４ ５３５７（２０１５）０５ ０５６５ ０５ ＤＯＩ：１０．１５８９８／ｊ．ｃｎｋｉ．１１－２１３１／ｔｄ．２０１５．０５．０１１ Ｘ射线衍射Ｋ值法测定氧化铁皮中游离 －ＳｉＯ的含量 α ２ 唐梦奇，黎香荣，刘国文，刘顺琼 （防城港出入境检验检疫局，广西 防城港５３８００１） 摘要：目前通常采用焦磷酸法和Ｘ射线衍射法测定游离 －ＳｉＯ的含量，其中焦磷酸法不能消除氧化铁皮中 α ２ ＦｅＯ、ＦｅＯ和ＦｅＯ等焦磷酸难溶物质的影响，不适合用于测定氧化铁皮中的游离 －ＳｉＯ。本文建立了采 ３ ４ ２ ３ α ２