试验室电子天平-样品前处理.PDF

实 验 室 电 子 天 超微量及微量天平 平 分析天平 精密天平 大量程精密天平 快速水分测定仪 选配件 完美解决方案 获得精确称量结果 梅 称量领域的领导者 特 勒 - 梅特勒 托利多，全球衡器及实验室称量技术的领导者，一直以来都以 托 - 先进的科技作为发展之本，坚持不懈的丰富着“称量”的内涵并拓展 利 了“称量”的概念。 多 现在，有越来越多的中国用户使用并信赖梅特勒 托利多称量解决方 天 - 案，因为我们提供的不仅仅是产品，更是解决问题的方法、卓越的瑞 平 士品质和完善的技术支持和维修服务。 的 Dr.Erhard Mettler 历 史 1945 Erhard Mettler博士发明了首台采用替代法原理的分析天平。 1982 AE分析天平，广泛应用于各行业实验室，并深受中国用户的 信赖。 梅特勒 托利多天平产品具有的卓越 - 称量性能，融入创新的产品设计， 2000 符合高标准的产品研究开发、生产 AX分析天平，应用了先进的触摸屏技术和红外感应器，可自 及性能测试的质量规范，体现了真 动开关防风门并可与互联网相接，分辨率高达 千万，荣获全 5 正的瑞士品质。 球百项重大发明大奖“RD100”。 2003 XS分析天平，全新诠释了称量的概念，网格秤盘(SmartGrid) “悬 浮”在称量室后部