数字电路测试(精品·公开课件).pptVIP

Company Logo L o g o L o g o 数字集成电路测试技术 参考书目： 《最新集成电路测试技术》 高成 张栋 王香芬 编著 《集成电路测试技术基础》 姜岩峰 张晓波 杨兵 编著 数字集成电路测试原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。 用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。  器件测试的关键目的就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡， 以取得最好的成本效率。 数字集成电路测试原理 数字集成电路测试原理图如下： 被测器件 （DUT） 输入 输出 测试向量 输出向量 测试图形1 0100X… HLXLH… … 10X10… HHLLX… 测试图形n …… …… 测试集 数字集成电路测试原理 主要测试其功能、时序关系和逻辑关系等 故障检测 仅测试电路是否存在故障。 故障诊断 不仅检测电路是否存在故障，而且要指出故障位置，进行故障定位。 测试 原理 数字集成电路常见故障类型 随着VLSI集成度的不断提高，信号线之间出现短路的概率大大增加，把这种由于信号线短路引起电路失效的故障称为“桥接故障”。 桥接故障 桥接故障分为三类：输入桥接故障、反馈桥接故障、非反馈桥接故障。 数字集成电路常见故障类型 在CMOS集成电路中的故障 桥接故障对应的模型一般用“线与”或“线或”来表示，这种模型能满足TTL电路需要，但是CMOS电路中，其故障就不能用此表示。 桥接故障与版图设计密切相关，所以在设计电路时必须严格遵守加工厂家规定的设计规则。 数字集成电路常见故障类型 1 中断故障 CMOS电路中的中断（也叫开路）是由实际工艺实施中某点处导电层淀积不充分或某点绝缘材料沉积太多所引起的。 用来解释各种中断故障的CMOS与非门电路 数字集成电路常见故障类型 2 晶体管固定关断故障 在设计集成电路时，为了考虑问题的方便，把电路分成了系统级、寄存器级、门级和晶体管级。 在实际故障分析时，必须在晶体管级进行，因为只有这一级才能观察到全部的物理结构。 CMOS电路中，10%~13%的故障属于“固定常开晶体管故障” （“固定短路晶体管故障”） ；1%属于“固定常关晶体管故障”（“固定断路晶体管故障”）。 数字集成电路常见故障类型 下图为两输入的CMOS与或门结构示意图，如果输出端Z有“固定断路故障”，会导致输出既不与电源 连接，也不与GND连接。如果T2是一个开路器件，当输入AB=00时，输出应该转变为高电平，但由于T2开路，导致输出不发生相应的变化等。 数字集成电路常见故障类型 Z列是正常值表，As-op表示与晶体管T3相关的开路故障， B Bs-op表示与晶体管T4相关的开路故障， VDDs-op表示与电源线VDD相关的开路故障，Zt表示输出维持原状态不变。 数字集成电路常见故障类型 延迟故障 按故障对电路功能的影响来区分，故障则可以分为“大故障”和“小故障”。 使电路功能彻底失效失效 可能导致电路局部的开路或短路，只使电路的反应时间变化 大故障 小故障 目前延迟故障分为：门延迟故障、路径延迟故障 延迟故障 数字集成电路常见故障类型 暂态故障 在数字电路中，暂态故障发生的可能性非常高，在系统测试和芯片调试中，暂态故障所带来的调试成本高达整个测试成本的90%以上，其中一方面跟测试工程师的经验有关，另外主要是暂态故障很难捉摸和预测。 暂态故障还被称为断续故障或临时故障。 暂态故障的测试 临时故障指那些不可重复发生的暂时的故障。 断续故障指可以重复发生但非周期性发生的故障。 因为断续故障具有一定的随机性，目前对它的描述只能通过概率的方法，一下介绍几种基于不同概率函数的模型： 两态一阶的Markov模型 暂态故障的测试 两态一阶的Markov模型不能描述所有的