高效组件测试解决方案(合肥晶澳技术交流报告)看图王.pdfVIP

高效组件测试解决方案 合肥工艺部 2015年5月19日 Company Name Dept. Name 目录  高效组件电容效应导致测试不准 高效组件测试电容效应  Pasan多次闪光测试方案  Pasan “龙背”技术测试方案  Pasan ModGen测试方案 合肥晶澳现有机台模拟ModGen测量方式  HALM测试解决方案 2 May 18, 2015 Company Name Dept. Name 1. 高效组件电容效应导致测试不准 选取一块Percium组件和一块普通直角单晶组件，分别设置Pasan机台的测试模式 (SC-OC：正向测试；OC-SC：反向测试)，每块组件正测反测各三次。结果如下： 从结果可以看到，对于高效组件，反向测试比正向测试功率高6.75W；对于普通单 晶组件，反向测试比正向测试功率高2.58W 。该差异来自于组件测试过程中的电容效应。 3 May 18, 2015 Company Name Dept. Name 2. 高效组件测试电容效应 如图可以看到，电池具有电容效应，可以理解为在二极管模型中并联了一个电容器。 电容的充电电量与两端的电压成正比，在U=0时，电容充电电量最少；在U=OC时，电容充电电 量最大。 当测试方向为SC→ OC时，电容是一个不断充电的过程，此时Imeas=Iph－Icap，因此 测试的电流Imeas比实际电流Iph低，导致测试功率及FF比实际值低。 当测试方向为OC→ SC时，电容是一个不断放电的过程，此时Imeas=Iph+Icap，因此 测试的电流Imeas比实际电流Iph高，导致测试功率及FF比实际值高。 造成如上现象的原因在于，目前所用的Pasan机台脉冲持续时间为10ms，每个测试点 的时间只有40us 。而电池电容充放电达到均衡的时间是ms级。如果选用长脉冲或者恒定光源的 IV测试仪，可以解决该问题。 4 May 18, 2015 Company Name