GB/T 4377-1996半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理.pdf

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  •   |  1996-07-09 颁布
  •   |  1997-01-01 实施

GB/T 4377-1996半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理.pdf

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中华人 民共和 国国家标准 半 导 体 集 成 电 路 电压调整器测试方法的基本原理 代替 主题内容与适用范围 本标准规定了半导体集成电路电压调整器 以下简称器件 电特性测试方法的基本原理 本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试 不适用于双端 单端口 器件 引用标准 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 总的要求 在所有测试期间 应注意查明没有寄生振荡出现 输入电源对测试中所使用的信号频率应基本上具有零阻抗 应避免不希望有的瞬态输入电压和电流 如果测试结果由热效应影响 则测试应在短时间内完成 例如 推荐脉冲法 在这种情况中 应规定 脉冲条件 所有测试设备应仅引入忽略不计的误差 上述适用于静态测试和动态测试 相对于被测电压差 输出电压测试设备应必须具有满足要求的灵敏度 相适应的方法即是输出电 压 与高稳定预调基准电压 相比较 然后 与 之差被检测和放大 最好采用增益稳定放大 器 若无特殊说明 在器件测试期间 环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合详细规范的规定 被测器件与测试系统连接或断开时 不应超过器件的使用极限条件 测试期间 被测器件应连接详细规范所规定的附加网络 图 为总测试电路 图 图 为图 分解后各参数的测试电路 本标准使用的电参数文字符号按 的规定 国家技术监督局 批准 实施 注 连同限 输出电流和 或调节输出电压所需的任何附加网络 图 测试电路 电特性测试 电压调整率 和电压稳定系数 目的 通过改变直流输入电压和记录相应的输出电压变化来确定电压调整率和电压稳定系数 测试原理图 电压调整率和电压稳定系数的测试原理图如图 所示 图 图 测试条件 测试期间 下列测试条件应符合详细规范的规定 环境或参考点温度 输入电压及其变化量 输出电压 提供所需输出电流的 负载网络 其他外部网络 适用时 测试重复频率和最大占空比 测试程序 在规定的环境温度 下 将被测器件接入图 的测试系统中 将图 所示的开关 置于位置 使被测器件输入端加上规定的直流输入电压 调节器件的输出电压至规定值 记为 见图 将图 所示的开关 置于位置 使器件输入端加上输入电压 并测出此时器件 的输出电压 记为 见图 按式 或 计算出电压调整率 式中 按式 计算出电压稳定系数 电流调整率 和电流稳定系数 目的 通过改变直流输出电流和记录相应的直流输出电压变化来确定电流调整率和电流稳定系数 测试原理图 电流调整率和电流稳定系数测试原理图如图 所示 图 图 测试条件 测试期间 下列测试条件应符合详细规范的规定 环境或参考点温度 输入电压 输出电压 提供所需输出电流及其变化量的 负载网络 其他外部网络 适用时 测试重复频率和最大占空比 测试程序

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