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第二章 光纤与光缆 示例 对于理想的光纤，不会有任何的损耗，对应的损耗系数为0dB/km，但在实际中这是不可能的。目前，1.31μm光纤的损耗在0.5dB/km以下，而1.55 μm光纤的损耗在0.2dB/km以下,基本接近的光纤损耗的理论极限。 光纤的损耗机理(1) 材料吸收 物质的吸收作用将传输的光能变成热能，从而造成光功率的损失。吸收损耗有三个原因， 一是本征吸收， 二是杂质吸收， 三是原子缺陷吸收。 光纤的损耗机理(1) 杂质吸收 由于一般光纤中含有铁、锚、镍、铜、锰、铬、钒、铂等过渡金属和水的氢氧根离子，这些杂质造成的附加吸收损耗称为杂质吸收。 金属离子含量越多，造成的损耗就越大。降低光纤材料中过渡金属的含量可以使其影响减小到最小的程度（目前，光纤中杂质吸收主要由于水的氢氧根离子的振动） 。 OH离子吸收：O-H键的基本谐振波长为2.73 ?m，与Si-O键的谐振波长相互影响，在光纤通信波段内产生一系列的吸收峰，影响较大的是在1.39、1.24、0.95 ?m，峰之间的低损耗区构成了光纤通信的三个窗口。 减低OH离子浓度，减低这些吸收峰?全波光纤（AllWave 康宁） 光纤的损耗机理(2) 瑞利(Rayleigh)散射是一种基本损耗机理。 由于光纤材料密度的微观变化以及各成分浓度不均匀，使得光纤中出现折射率分布不均匀的局部区域，从而引起光的散射，将一部分光功率散射到光纤外部。 大小与?4成反比， ?R＝C/ ?4（dB/km）因而主要作用在短波长区。 瑞利散射损耗对光纤来说是其本身固有的，因而它确定了光纤损耗的最终极限。 在1.55 ?m波段，瑞利散射引起的损耗仍达0.12~0.16 dB/km ，是该段损耗的主要原因。 物质在强大的电场作用下，会呈现非线性， 即出现新的频率或输入的频率得到改变。这种由非线性激发的散射有两种即受激喇曼(Raman)和受激布里渊(Brillouin)散射。 光纤的损耗机理(3) 辐射损耗又称弯曲损耗，包括两类：一是弯曲半径远大于光纤直径，二是光纤成缆时轴向产生的随机性微弯。 定性解释：导模的部分能量在光纤包层中（消失场拖尾）于纤芯中的场一起传输。当发生弯曲时，离中心较远的消失场尾部须以较大的速度行进，以便与纤芯中的场一同前进。这有可能要求离纤芯远的消失场尾部以大于光速的速度前进，由于这是不可能的，因此这部分场将辐射出去而损耗掉。 光纤光缆的制作 用气相沉积法制作具有所需折射率分布的预制棒（典型预制棒长1m,直径2cm） 使用精密馈送机构将预制棒以合适的速度送入炉中加热 成缆--光缆 预制棒制作技术 －改进的化学气相沉积法（MCVD）、等离子体化学气相沉积法（PCVD）、棒外气相沉积法（OVD）和轴向气相沉积法（VAD） 后向散射法不仅可以测量损耗系数，还可利用光在光纤中传输的时间来确定光纤的长度L。显然， 式中，c为真空中的光速，n1为光纤的纤芯折射率，t为光脉冲的往返传播时间。 图 2.23　后向散射法光纤损耗测量系统框图 　　图2.23示出后向散射法光纤损耗测量系统的框图。光源应采用特定波长稳定的大功率激光器，调制的脉冲宽度和重复频率应和所要求的长度分辨率相适应。耦合器件把光脉冲注入被测光纤，又把后向散射光注入光检测器。光检测器应有很高的灵敏度。 图 2.24　后向散射功率曲线的示例 　　图 2.24是后向散射功率曲线的示例，图中(a)输入端反射区；(b)恒定斜率区，用以确定损耗系数；(c)连接器、接头或局部缺陷引起的损耗；(d)介质缺陷(例如气泡)引起的反射；(e)输出端反射区，用以确定光纤长度。 　　用后向散射法的原理设计的测量仪器称为光时域反射仪(OTDR)。这种仪器采用单端输入和输出，不破坏光纤，使用非常方便。OTDR不仅可以测量光纤损耗系数和光纤长度，还可以测量连接器和接头的损耗，观察光纤沿线的均匀性和确定故障点的位置，确实是光纤通信系统工程现场测量不可缺少的工具。 　　光纤带宽测量有时域和频域两种基本方法。时域法是测量通过光纤的光脉冲产生的脉冲展宽，又称脉冲法； 频域法是测量通过光纤的频率响应，又称扫频法。两种方法是等效的，这里只介绍扫频法。这种方法通常用于多模光纤的测量。　　设在测量系统中，接入一段短光纤时，测出的频率响应为H1( f )，接入被测长光纤时，测出的频率响应为H2( f )，则光纤频率响应H( f )和3 dB光带宽f3 dB应满足下式： 2.5.2　带宽测量 写成对数形式：  T( f )=10 lg |H( f3 dB)|=10［lg |H2( f )|－lg|H1( f )|］=－3