基于cis芯片的自动曝光电路设计-微电子学与固体电子学专业论文.docxVIP

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  • 2019-01-09 发布于上海
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基于cis芯片的自动曝光电路设计-微电子学与固体电子学专业论文.docx

基于cis芯片的自动曝光电路设计-微电子学与固体电子学专业论文

摘要目前,CMOS图像传感器的应用领域很广,从可视电话、指纹识别、数码相 摘要 目前,CMOS图像传感器的应用领域很广,从可视电话、指纹识别、数码相 机、汽车到医疗电子,甚至是航空领域。CMOS图像传感器的发展趋势为集成化、 超微型化、智能化、高分辨率、宽动态范围、高帧频。特别是ISOC(图像传感 器片上系统)是近几年最新的研究方向。自动曝光功能是根据场景的变化调整曝 光参数,进而调节拍摄图片的亮度。图片亮度的适合与否是对图像最直观的认识, 对图像的质量起到了至关重要的作用,所以自动曝光对于CMOS图像传感器系 ~ 统来说是最重要的功能之一。 ◆ 本论文主要论述了基于CMOS图像传感器系统的自动曝光电路的设计和硬 ’ 件实现。在介绍了最新国内外研究进展和曝光的原理的基础上,从测光的方式、 颜色空间的选择、自动曝光模块处于系统工作流水线的位置、目标值的确定等方 面的详细地阐述了自动曝光算法的确定过程,详细探讨了基于目标值的动态步长 迭代算法的硬件实现。改进的迭代步长可以更加准确快速的实现曝光调整,并给 出了MATLAB软件验证结果。并且为了改善成像效果,针对这类算法容易出现 的高对比度场景时曝光过度和曝光不足的问题增加了曝光补偿模块,采用模糊逻 辑的检测方法。还增加了针对室内灯光经常发生的Flicker现象的检测模块,采 用两帧差值计算振幅的方法,使图像传感器在室内灯光下也可以工作良好。采用 Verilog硬件描述语言进行了设计、仿真和调试,模块主要分为自动曝光主模块、 曝光补偿模块、Flicker检测模块。使用Quartus进行FPGA综合,共消耗了2778 个逻辑单元和8192个存储单元。在CMOS图像传感器图像处理系统进行了测试。 系统主要包括一片Altera公司的FPGA芯片EPlCl2Q240C8,一片128Mbits的 SDRAM,一片2Mbits的异步SRAM和一片Cypress的USB2.0控制芯片 CY7C68013。在测试系统中,整体模块以及各个予功能模块工作稳定正常,可以 根据场景的变化快速准确的调整曝光参数,使图像达到适当的亮度值。对于室内 ’ 灯光下和高对比度的场景也可使主体的曝光效果得到改善,达到了设计要求。 t 关键词:CMOS图像传感器自动曝光曝光补偿Flicker检测图像处理 ABSTRACTCurrently,CMOS ABSTRACT Currently,CMOS image sensor applications are very broad,from the video phone, fingerprint identification,digital cameras,automotive to medical electronics,and even aviation.The wend of CMOS image sensors is integration,ultra-miniature,intelligent, high-resolution,wide dynamic range,and high frame rate.In particular,ISOC(the image sensor system on chip)is a new research direction in recent years.Automatic exposure function changed exposure parameters according to the scene,take pictures ▲V弋 and then adjust the brightness.Image brightness is the most intuitive understanding of image which plays a vital role in the quality of the image,it features automatic exposure for the CMOS image sensor system one of the most important functions. This paper mainly discusses the design and hardware implementation of the automatic exposure control circuit based on the CMoS image sensor system. Introducing the latest research progress and the principle of exposure,from the metering

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