粉末法照相法和衍射仪法照相法德拜照相法.ppt

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粉末法照相法和衍射仪法照相法德拜照相法

Page * 3、确定晶胞的“分子”数 已知NaCl晶体的密度?=2.165g?cm-3, 化学式量 M=58.5 g?mol-1, 则晶胞中NaCl的“分子”数为: 利用结构因子确定晶胞中 Na+ 和 Cl- 的位置,假设晶胞中 4 个 Na+ 和 4 个 Cl-的分数坐标为Na+: (0,0,0) ,(0,1/2,1/2), (1/2,0,1/2), (1/2,1/2,0) Cl-: (1/2,1/2,1/2), (1/2,0,0), (0,1/2,0), (0,0,1/2) Page * 这种假设是否正确, 则要看由此出发计算得到的衍射强度与实验粉末线的强度是否一致. 把这些分数坐标代入结构因子公式式得: Page * 这一计算如果与表中的实验结果完全一致, 说明所假定的试探结果是正确的. 这样就确定了NaCl的晶体结构。 如果计算结果与实验相对强度不一致, 则应重新假定各原子的分数坐标进行重新计算, 直至与实验结果一致为止。 §6.3 粉末衍射仪法 第六章X射線粉末衍射及應用(I) §6.1 粉末德拜法 §6.2 粉末衍射指标化 §6.3 粉末衍射仪法 粉末法是由德国的德拜和谢乐于1916年提出的。是所有衍射方法中最为方便的方法,可提供晶体结构的大部分信息。 粉末法以单色的X射线照射粉末试样为基础的,单色是指X射线中强度最高的K系X射线。 粉末法:照相法和衍射仪法。 照相法(德拜照相法):是晶体衍射分析中最基本的方法。 优点 :衍射角范围大,衍射环的形貌能直观地反映晶体内部组织的一些特点(如亚晶尺寸、微观应力、择优取向等),衍射线位的误差分析简单且易于消除,可以达到相当高的测量精度; 缺点: 衍射强度低,需要较长的曝光时间。 衍射仪法:与计算机相结合,具有高稳定性、高分辩率、多功能和全自动的特点,并且可以自动地给出大多数衍射实验结果,因此它的应用非常普遍。 §6.1 粉末德拜法 但是受底片大小的限制,一张底片不能记录下所有的衍射花样。如何解决这个问题? 德拜和谢乐等设计了一种新方法。将一个长条形底片圈成一个圆,以试样为圆心,以X射线入射方向为直径放置圈成的圆底片。这样圆圈底片和所有反射圆锥相交形成一个个弧形线对,从而可以记录下所有衍射花样,这种方法就是德拜-谢乐照相法。 记录下衍射花样的圆圈底片,展平后可以测量弧形线对的距离2L,进一步可求出L对应的反射圆锥的半顶角2θ,从而可以标定衍射花样。 德拜照相法: 德拜相机: 德拜相机:相机圆筒、光阑、荧光屏和位于圆筒中心的试样架构成。相机圆筒上下有结合紧密的底盖密封,与圆筒内壁周长相等的底片,圈成圆圈紧贴圆筒内壁安装; 试样放置在位于圆筒中心轴线的试样架上,其上设有校正试样偏心的部件。沿直径方向开两圆孔:一端插入光阑(前),另一端插入承光管(后光阑)。 前光阑的作用是限制照射到样品光束的大小和发散度。 承光管包括让X射线通过的小铜管以及在底部安放的黑纸、荧光纸和铅玻璃。可以检查X射线对样品的照准情况,同时可将透过试样后入射线在管内产生的衍射和散射吸收,避免这些射线混入样品的衍射花样。 底片安装方法: 底片栽成长条形,按光阑位置开孔,贴于相机内壁放置。 按圆筒底片开口处所在位置的不同,可分为: 正装法; 倒装法; 不对称装法。 1、正装法: 底片中部开孔让后光阑穿过,开口处在前光阑两侧。衍射花样是一系列弧段,靠近底片中部者为前反射衍射2? 90?,背反射2? 90?线条位于底片两端。测量同一个衍射环的二弧段的间距S,就可计算其衍射角。若相机半径为R,则: 特点:该法的几何关系和计算均较简单,常用于物相分析。 2、倒装法: 底片开口在后光阑两侧,底片中部的衍射线为背反射,两端为前反射。 特点:高角线弧对间距较小,由底片收缩造成的误差也较小,故适用于点阵常数的测定。 3、不对称装法: 底片开两孔,分别被前、后光阑穿过,底片开口置于相机一侧。由前后反射弧对中心点的位置可求出底片上对应180?圆心角的实际弧长W,可用下式计算衍射角: 该方法可以消除底片收缩和相机半径误差,是目前较常用的方法。 德拜法用的试样为细圆柱状多晶体;尺寸为φ0.4-0.8mm的圆柱样品。制备方法有: (1)用细玻璃丝涂上胶水后,捻动玻璃丝粘结粉末。 (2)采用石英毛细管、玻璃毛细管来制备试样。将粉末填入石英毛细管或玻璃毛细管中即制成试样。 (3)用胶水将粉末调成糊状注入毛细管中,从一端挤出2-3mm长作为试样。 (4)金属细棒可直接用来做样。 德拜法的试样制备 根据上述计算出衍射角?,再根据照相时所用X射线的波长,由布拉格方程就可计算出相应的晶面间距。 Page * §6.2 粉末衍射指标化 利用粉末样品衍射图确定相

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