Q_YNT 034-2018RF系列集成电路（IC）卡读写机.pdf

Q/YNT 云南南天电子信息产业股份有限公司企业标准 Q/YNT 034—2018 代替 Q/ YNT 034—2015 RF 系列集成电路（IC）卡读写机 2018 - 11 - 15 发布 2018 - 12 - 1 实施 云南南天电子信息产业股份有限公司 发 布 Q/YNT 034—2018 目 次 前言 II 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 产品命名规则 2 5 技术要求 3 6 试验方法 4 7 检验规则 7 8 元器件静电防护 9 9 标志、包装、运输、贮存 9 附录A （规范性附录） 故障分类及判断 11 I Q/YNT 034—2018 前 言 本标准按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。 本标准代替 Q/YNT 034-2015 《RF系列集成电路（IC）卡读写机》。 请注意本标准的某些内容可能涉及专利。本公司不承担识别这些专利的责任。 本标准由云南南天电子信息产业股份有限公司起草。 本标准主要起草人：何健，吴昊。 Q/YNT 034 的历次版本发布情况为: —Q/YNT 034-2009。 —Q/YNT 034-2012。 —Q/YNT 034-2015。 II Q/YNT 034—2018 RF 系列集成电路（IC）卡读写机 1 范围 本标准规定了RF系列集成电路（IC）卡读写机的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、元器件 静电防护及标志、包装、运输和贮存要求。 本标准适用于本公司生产的RF系列集成电路（IC）卡读写机。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 191 包装储运图示标志 GB/T 2421.1 电工电子产品环境试验 概述和指南 GB/T 2423.1 电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.2 电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.3 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热方法 GB/T 2423.5 电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验Ea 和导则：冲击 GB/T 2423.6 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Eb 和导则: 碰撞 GB/T 2423.8 电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验Ed: 自由跌落 GB/T 2423.10 电工电子产品环境试验 第2 部分: 试验方法 试验Fc: 振动(正弦) GB 4943.1 信息技术设备的安全 GB 5080.7 设备可靠