《QBT1135-1991-首饰金银覆盖层厚度的测定方法X射线荧光光谱法》.pdfVIP

中华人民共和国轻工行业标准 QB/e1135一1991 首饰金银覆盖层厚度的测定方法 X射线荧光光谱法 本标准参照采用国际标准ISO3497;1976(E). 1 主题 内容与适用范围 本标准规定了用x射线荧光光谱法测量首饰金属覆盖层厚度的方法。 本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质) 2 方法提要及原理 采用x射线荧光光谱法测量金属覆盖层厚度是通过x射线荧光的产生检测和分析而确定覆盖层 厚度的。每种元素的原子都具有其本身独有的电子排列，对于给定的特征x射线，其能量取决于该原子 的原子序数，因此，不同的材料将产生不同能量的x射线荧光。通过x射线荧光测厚仪对不同材料发出 的x射线荧光进行能量分辨和强度的检测，可以确定材料的特性，从而测定覆盖层的厚度。 3 仪器和设备 3 . 1 x射线荧光测厚仪:一套(带自动打印机)。 2 3 包括各镀种的标准样块:一套。 3 3 . 仪器 自检的参照标样 :一块。 4 仪器的校准 校准是测量样品的先决条件，校准的目的是使被测样品覆盖层的厚度对发射x射线荧光的强度值 之间建立准确的关系， 4门 校准模式的选择 各类型的x射线荧光测厚仪都具有若干种校准模式，应按筱盖层和基材的类型选用适当的校准模 式 4.2 校准模式的输入 选定相应的校准模式后，将采用相应的存储器按规程输人校准模式。当采用标准进行校准时，应采 用与测试样品完全一致的条件(包括检测孔尺寸，相同覆盖层和基体材料及测量时间等)。在校准程序结 束时，将 自动进人测试模式。 5 影响精度的因素 5.1 计数统计 由于x射线光子的产生是在随机情况下进行的，因而在一固定时间内发射的光子数量不一定相 同，所有放射性测量中都会出现统计误差。这一统计误差与计数时间的长短有关。 5.2 测量时间 中华人民共和国轻工业部1991一06-04批准 1992一01一01-3}施 QB/T1135一1991 为保证达到精度要求，计数时间必须大于1o5, 5.3 镀层厚度 测量的准确度受被测样品的厚度范围影响，在镀层饱和厚度范围内准确度最佳。当超过饱和厚度时 准确度急剧下降,x射线荧光的强度随厚度的变化甚微，因而在此范围内准确度较差。其饱和厚度因覆 盖层材料不同而异。x射线荧光测厚仪的饱和厚度近似值为下表所规定的范围(见表 1) 表 1 X射线荧光测厚饱和厚度近似值 结 构 上 限 J- {结、 上 限，”m 银/钢 50.8 一 金/铜 7.6 银/黄铜 50.8 {金/黄‘ 7.6 金/镍 7.6 金/银 7.6 5.4 样品曲率 厚度测量在平面上进行，若不可避免地要在曲面上测量厚度时，应选择尺寸为0.lmm的测量孔 径 5.5 测量面积的尺寸 测量孔径的尺寸取决于试样的尺寸和形状，为了获得满意的侧试结果应选择镀层表面有代表性的 最大测量面积，而测量孔径的尺寸应与测量面积的大小相适应。 5.6 密度 若钮盖层密度与所用校准标样不同，将出现厚度测量中相应的误差。因此可按照密度修正模式输人 试样的镀层密度值，此时测试数据将显示出经密度修正后的厚度值。侧试完毕可以按照相应程序，将密 度修正值去掉。 5.了 表面清洁度 测试前清除样品表面所有污垢，如尘土、油脂、锈蚀物、漆以及氧化物等保护层，否则将影响租盖层 厚度的测量。 6 测f程序 6，1 校准和操作 校准按第4章规定的程序进行，待校准结束后按仪器说明书进行操作。 6.2 标样的校准与仪器的调整 进行测试前应采用与被测样品具有相同基材和搜盖层的标准进行仪器校准，及时用参照标样进行 自检，以保证仪器正常