电子元器件失效分析技术与案例.pdfVIP

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2019-01-24 发布于浙江
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电子元器件失效分析技术与案例.pdf

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第一部分电子元器件失效分析技术 1．失效分析的基本概念和一般程序电子元器件失效分析技术与案例 2 ．失效分析的电测试 3 ．无损失效分析 4 ．模拟失效分析信息产业部电子五所 5 ．制样技术 6 ．形貌像技术费庆宇 7 ．扫描电镜电压衬度像 8．热点检测技术 9 ．聚焦离子束技术失效分析的基本概念失效模式的概念和种类失效分析的定义失效的表现形式叫失效模式失效模式失效模式是失效的结果失效机理按电测结果分类，失效模式可分为：开纠正措施路、短路或漏电、参数漂移、功能失效失效分析的作用失效机理的概念开路的可能失效机理失效的理化学根源叫失效机理过应力（EOS ）损伤、金属迁移、失效机理是失效的原因金属的化学腐蚀、压焊点脱落、 CMOS 电路的闩锁效应、塑封器件的爆米花效应 1 PDF 文件使用 pdfFactory Pro 试用版本创建金属迁移过应力（EOS ）损伤金属的化学腐蚀