超低副瓣天线平面近场测量截断误差分析-易迪拓培训.PDF

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超低副瓣天线平面近场测量截断误差分析-易迪拓培训

年 月 西安电子科技大学学报(自然科学版) !$ R SK: )!$ 第 卷 第 期 !/ , !#$%’ ( )*+*% #%*,-$.*/0 TJ )!/ . ) , 超低副瓣天线平面近场测量截断误差分析 于 丁,傅德民,刘其中,毛乃宏 (西安电子科技大学 天线与电磁散射研究所,陕西 西安 $$) 摘要:给出了平面近场测量中由于有限扫描面截断所引起的远场相对误差的表达式以及扫描面宽度选 择原则,用计算机模拟的方法研究了有限扫描面对超低副瓣天线平面近场测量结果的影响,得到了一些 基本的规律,并证实了扫描面宽度选择原则对于超低副瓣天线平面近场测量的适用性和正确性) 关键词:超低副瓣天线;平面近场测量;有限扫描面;截断误差;扫描面宽度选择原则 中图分类号: ; 0 文献标识码: 文章编号: ( ) *+%, ’ $$- *./! ’ $ 1 $$#!( !$ ,#,/#- !#$%’()$ *) $+,-(- ). #+’/+)0 -(1*+)2* $’*$$ 3+$ $*/.(*+1 4*-#*4*$’- ! #$% ,’ #()*$% ,+, -$)./0% ,123 45$)/0% ( , , , ) 9:4; ) = 1:;3::54 5: ?+ @75;;36A:B CAA5: D:AE ) CAF5: $$ G8A:5 52-’%’: *83 3HI6344A:4 =6 ;83 =56#=A3J 63J5;AE3 3666 75K43 LM =A:A;3 475::A:B IJ5:3 ;6K:75;A: A: IJ5:56 :356# =A3J N354K63N3:;4 5: ;83 78A73 I6A:7AIJ3 : ;83 475::A:B IJ5:3 OA;8 563 BAE3: ) *83 3==37; = =A:A;3 475::A:B IJ5:3 : KJ;65#JO 4A3JL3 5:;3::5 IJ5:56 :356#=A3J N354K63N3:;4 A4 4;KA3 LM ;83 N3;8 = 7NIK;36 4ANKJ5;A:, OA;8 , 4N3 L54A7 J5O4 L;5A:3 ) PK6;836N63 ;83 5IIJA75LAJA;M 5: 76637;:344 = ;83 78A73 I6A:7AIJ3 : ;83 475::A:B IJ5:3 OA;8 =6 KJ;65#JO 4A3JL3 5:;3::5 IJ5:56 :356#=A3J N354K63N3:;4 563 7:=A6N3 ) : ; ; ; ; 6*, 7)1-

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