半导体异质结.ppt

ZnO掺杂能带示意图 第3章 半导体异质结 pn结的两边是采用同一种材料，称为同质结 由两种不同的半导体单晶材料组成的结，则称为异质结 3.1 异质结及其能带图 异质结的形成 异质结的形成条件满足禁带宽度的要求，选择晶格失配小的材料 异质结的能带图 异质结耗尽层宽度的计算 假设条件：在热平衡下，界面两端的费米能级相同 禁带宽度Eg和电子亲和能皆非杂质浓度的函（非简并） 导带边缘的不连续和价带边缘的不连续不会受杂质浓度影响 能带的弯曲量VD（扩散电势）为两种半导体功函数之差 同质结中势垒高度VD的计算 耗尽层宽度随着结电压的变化而变化，微分电容C=dQ/dV， 考虑界面态时的能带图 渐变异质结的能带图 3.2 异型异质结的电学特性 半导体异质结的电流电压关系比同质结复杂 负反向势垒异质结的伏安特性 p型半导体中少数载流子的浓度n10 n型半导体中多数载流子的浓度n20 空穴的电流密度 异质结注入比： 正反向势垒异质结的伏安特性 势阱中的电子要往右边输运，需要克服高度为?Ec–qVD1的势垒 右边n型区导带中的电子要往左边输运，需要克服的势垒高度为qVD2 但左边的空穴要通过异质结所需越过的势垒却很高，为qVD1+qVD2–?Ev 这种异质结几乎不存在整流特性 界面态的影响 如果考虑界面态，载流子将通过界面态发生复合，复合电流为 异质结的超注入现象 超注入现象:指在异质结中由宽带半导体注入到窄带半导体中的少数载流子浓度可以超过宽带半导体中多数载流子浓度 以n1和n2分别表示P区和N区的电子浓度 Ec1和Ec2分别表示p区和N区的导带底能值 3.3 量子阱与二维电子气 量子阱：在量子力学中，能够对电子的运动产生某种约束并 使其能量量子化的势场 对处于无限深方势阱中的粒子 ，假定势阱的宽度为Lz，求解薛定谔方程，则波函数的解为 二维电子气的态密度 态密度：单位能量间隔内允许存在的状态数 在三维情况下，态密度和能量呈抛物线关系，通过k空间来求能量空间的状态密度， 二维电子气只需要把三维求解中的体积转化为二维的面积 3.4 多量子阱与超晶格 量子阱效应 一、量子约束效应:量子阱中电子的能级间距与阱宽的平方成反比,对于由夹在宽禁带材料之间的窄禁带材料薄层构成的量子阱，当薄层狭窄到足以使电子状态量子化 二、共振隧穿效应:当入射电子的能量与中间量子阱中的分立能级一致时，其隧穿概率可接近于1，而能量不一致时，其隧穿概率则几乎为零 三、声子约束效应:在量子阱或超晶格中，声子态也有类似于电子态的量子约束效应 四、微带效应:超晶格中各量子阱之问的势垒较薄，各量子阱中的束缚能级互相耦合，形成微带 * N和P表示宽带半导体，n和p表示窄带半导体 p型GaAs与P型AlGaAs ，同型异质结 p型GaAs与N型AlGaAs，异型异质结 一些Ⅲ-Ⅴ族化合物及几种Ⅱ-Ⅵ族化合物的禁带宽度和晶格常数 三元合金的禁带宽度和晶格常数 用三元或四元化合物半导体来制作出晶格匹配非常完美的异质结。 晶格失配 定义 a1和a2分别是两种材料的晶格常数 （a2a1），a为平均值 晶格匹配越好，界面态密度越低 晶格失配形成位错缺陷 单位面积的悬挂键数目为 （a）异质结形成之前平衡能带图（b）形成之后的平衡能带图 特点：在界面处就会出现能带的弯曲，发生导带及价带的不连续 NA是p型半导体的受主浓度，ND是n型半导体的施主浓度。 ?n与?p分别是n型和p型半导体的相对介电常数。 当外加偏压时，用（VD–V）替换VD 内建电势的大部分降落在杂质浓度较低的一侧，其耗尽层宽度也较宽 （1/C2）和V呈线性关系， 可以从直线在电压轴上的截距求得势垒高度VD （a）p-n异质 （b）n-p异质结 （c）p-p异质结 （d）n-n异质结 突变异质结的伏安特性和注入特性 （a）负反向势垒（b）正反向势垒 加正向偏压时, p型半导体势垒区边界处的少子浓度 电子电流密度 Ln1为电子扩散长度，Dn1为电子扩散系数 n型半导体中少数载流子的浓度p20 加正向电压时 Lp2为空穴扩散长度，Dp2为空穴扩散系数 总电流 注入比: 是指pn结加正向电压时，n区向p区注入的电子流与 p区向n区注入的空穴流之比 同质结注入比 决定同质结注入比的是掺杂浓度 由于能带断续的存在，由左向右的空穴注入除了要 克服势垒之外，还要克服一个附加台阶，因而空穴流 而由右向左的电子注入只需克服势垒 价带断续?Ev大，异质结就能产生较大的注入比 异质结是渐变时 Ein代表界面态的能级深度，V是外加电压 加正向电压后的p-GaAs-N