基于电磁辐射信号分析探究的芯片硬件木马检测.pdfVIP

第 2期 电 子 学 报 V0J．42 No．2 2014年 2月 ACIAlELE(YrR0NICASINICA Feb． 2014 基于电磁辐射信号分析的芯片硬件木马检测 张 鹏 ，王新成，周 庆 (信息保障技术重点实验室，北京 100072) 摘 要 ：集成电路芯片在制造过程中可能被嵌入恶意硬件电路，形成硬件木马．提出一种新的利用芯片电磁旁 路泄漏信息的硬件木马无损检测方法．对芯片表面进行区域划分，通过随机选优算法生成硬件木马测试向量集；利用 基于负熵指标的投影寻踪技术将芯片高维旁路信号投影到低维子空间，在信息损失尽量小的前提下发现原始数据中 的分布特征，从而实现芯片旁路信号特征提取与识别．针对示例性高级加密标准(AES-128)木马电路的检测实验表明， 该技术可以有效分辨基准芯片与硬件木马测试芯片之间的电磁信号特征差异，