基于单片机的数显电容测试仪的设计.pdfVIP

电子质量 (2016第05期) 基于单片机的数显电容溯试仪的设计 基于单片机的数显电容测试仪的设计 DesignofCapacitanceMeterBasedonSCM 赵巧妮 (湖南铁道职业技术学院，湖南 株洲412001) ZhaoQiao-ni(HunanRailwayProfessionalTechnologyCollege，Hunan Zhuzhou412001) 摘 要：基于AT89S51单片机和555定时器芯片设计的数显式电容测量仪，由555芯片和电容电阻组成 振荡电路来输出矩形波 ，通过单片机定时器T0测量其脉冲宽度，从而达到测量其周期的目的，再通过 单片机软件编程 ，对数据进行进一步的计算从而得出被测电容的值 ，并通过液晶LCD1602显示出其测 量的电容值。经过试验验证 ，该设计的硬件设计和软