TL431失效析操作不当引起的重大隐患.docVIP

TL431失效分析 1、客户描述：输出电压低，不稳压，电压跳动； 2、失效器件分析结果：芯片烧毁，引线阻性碳化； 3、客户要求：提供维修后的样机一个，要求验证失效类型； 4、样机描述：电源规格为28v1.5a产品，光耦PC817和TL431有拆焊痕迹，其中TL431虽然有拆焊过，但还是原来PCB板上的器件，经后续装机测试为正品，见右上角照片，批号为：009168060。 5、建立测试验证模型：输入电压220V-MAX60W，输出负载100Ω30W，示波器单通道观察输出电压波形，测量结果以照片形式提供； 6、原理图： 恕不提供，受保密条例限制。 7、备注：上图中的第四点描述错误，更正为：此时KA之间的电压为电源电压，光耦失电后前级不受控，典型表现为C点电压升高，因C点电压升高，TL431基准端电压上升，控制KA端最大导通状态，KA之间等效为短路状态，无法承受C点的高压大电流而瞬间烧毁； 8、验证参考PCB板：见如下图片和标注点； 9、验证过程：见图片和文字描述； 【图片一】：正常输出波形，电压为直流28.2V。 【图片二】：当A点和B点瞬间短路后，输出为跳动间隔为2.1秒的脉冲5.32V；坏TL431； 芯片解剖图：KA严重烧毁，引线轻微碳化—功率输出三极管损毁 【图片三】：当D点和E点瞬间短路后，输出为跳动间隔为2.1秒的脉冲6.32V；坏TL431； 芯