导电密封条贮存寿命评价试验方法研究.PDFVIP

第 期 张钟文等．导电密封条贮存寿命评价试验方法研究 1 导电密封条贮存寿命评价试验方法研究 张钟文1，2，3，4，王学孔1，2，3，4，唐庆云1，2，3，4，钟云龙1，2，3，4，林婷婷1，2，3，4 （1. 工业和信息化部电子第五研究所，广东 广州　5 106 10 ；2 . 广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室，广东 广州　 5 106 10 ；3. 电子信息产品可靠性分析与测试技术国家地方联合工程中心，广东 广州　5 106 10 ；4 . 广东省无人机可靠性与 安全性工程技术研究中心，广东 广州　5 106 10） 摘要：分析导电密封条的贮存环境条件影响及失效机理，确定贮存期的典型环境条件，以老化失效机理作为分析对 象，基于时间-温度叠加的加速寿命预测模型，以单一温度为加速试验条件，设计导电密封条成品贮存加速寿命试验方 法，可在较短的时间内评价导电密封条的贮存寿命。导电密封条贮存10年的加速寿命试验条件确定为：温度　100 ℃，相 对湿度　5% ，试验时间　2 8. 3 d 。 关键词：导电密封条；贮存寿命；试验评价 中图分类号： ＋ 文章编号： TQ336. 4 2 ；TQ330 . 7　　　　　　　　　 1000-890X （20 19）00-0000-03 文献标志码： DOI ： B　　　　　　　　　　　　　　　　　　 10 . 12 136/j . issn . 1000-890X . 20 19. 0 1. 000 1 随着电磁屏蔽技术的发展，屏蔽机箱的应用 作方式，导电密封条承受机箱的预紧力。 越来越广泛。为避免机箱电磁泄漏，最常用导电 1. 2　失效机理分析 [1] 1. 2. 1　高温及预紧力作用下 橡胶密封条进行密封 。将导电填料（如炭黑、金 属粉末、碳纤维等）分散在绝缘的硅橡胶中制得的 硅橡胶在高温下的老化性能与其分子结构 硅橡胶导电密封条因具有稳定的电阻时间特性、 和环境条件密切相关，通常硅橡胶在高温下发生 可控制的电阻温度系数及较高的温度界限等优点 主链降解和侧基氧化反应，温度对导电密封条的 而备受关注。 影响主要体现在温度变化对交联橡胶大分子的影 导电密封条的贮存寿命对其作用的发挥至关 响。温度升高，高分子链运动加剧，一旦超过化学 重要。本工作研究硅橡胶导电密封条贮存寿命的 键的离解能，就会引起高分子链的热降解或基团 评价试验方法。 脱落，从而使材料的物理性能发生显著变化，表现 [2-3] 为导电密封条老化 。 1　实验 在预紧力和高温同时作用下，导电密封条材 1. 1　试验对象及使用条件 料中的橡胶分子链长期处于屈服状态，会产生不 某型机箱导电密封条以硅橡胶作为基体，通过 可恢复的形变，降低其抗压缩永久变形能力，当不 填充铝镀银粉并硫化成型后制成，具有导电屏蔽作 可恢复形变不能满足要求时，会导致导电密封条 用。其寿命期内贮存寿命占总寿命的90% 以上，因 密封性降低，失去电磁防护的效能。 此贮存环境是导致导电密封条性能退化的主要因 1. 2. 2