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无损检测基础知识  ;;概述;概述;;;;;;一 射线检测;;;;1.1射线照相法的原理;由x射线管所发出的x射线能谱为连续谱，因其波长分布是连续的。连续谱的最短波长λmin与管电压千伏值（kVP）的关系为 λmin=12.4/kVP 管电压越高，最短波长λmin的值就越小，平均波长越短，x射线的能量越高，线质越硬，穿透物质时衰减越少，穿透力越强。所以在射线检测时，一般是根据试件的材质和厚度来选择管电压。x射线的强度大致与管电压的平方和管电流的大小成正比。x射线的强度越大，;;图7.2-5 x射线照相原理; 射线照相设备可分为：x射线探伤机、高能射线探伤设备、γ射线探伤机三大类。 x射线探伤机有携带式，移动式两类。 携带式x射线机主要用于现场射线照相，管电压一般小于320kV，最大穿透厚度约50mm。 移动式x射线机用在透照室内的射线探伤，它具有较高的管电压和管电流。管电压可达450kV，最大穿透厚度约100mm。 高能射线探伤设备主要有加速器等 γ射线机由射线源、盛装源容器、操作机构、支撑和移动机构组成。 ;;1.3射线照相工艺;为得到高的缺陷检出率。照相规范的选择应注意以下几点： （1）透照方式的选择和K值控制。 按射线源、工件和胶片之间的相互位置关系，透照方式分为纵缝透照法、环缝外透法、环缝内透法、双壁单影法和双壁双影法五种，。其中双壁单影法用于小直径的容器或大口径管子焊缝；双壁双影法用于Φ89以下管子对接环焊缝。 除了管道和无法进入内部的小直径容器只能采用双壁透照外，大多数容器壳体的焊缝照相都采用单壁透照，透照时可以把射线源放在外面而把胶片贴在内壁（称为外透法），也可以把射线源放在里面而胶片贴在外面（称为内透法）。 外透法的优点是操作比较方便，内透法的优点是透照厚度差小，在满足透照厚度比K值的情况下，一次透照长度较大。 透照厚度比K的含义见图7.2-8，由图中关系可知： K = T′/T （7.2-8） θ=arcos（1/K） （7.2-9） ;标准规定，锅炉压力容器焊缝射线照相，纵缝的K值不得大于1.03，环缝的K值不得大小于1.1，限制透照厚度比，也就间接控制了横向裂纹检出角θ，使之不致过大，过大的θ角有可能导致横向裂纹漏检。采用源在内的透照方式，其θ角比源在外方式小得多，尤其是源在中心的内透法，K值为1，θ角为0，是最佳透照方式。;（2）射线能量的选择。愈是使用低能量的射线，吸收系数μ值就愈大，从而可以得到ΔD较大的缺陷图象。为了达到这一目的，在采用X射线时要尽可能降低管电压，在采用γ射线时，则要选择能量较低的γ射线源。但是降低管电压会导致射线穿透力减小，因而不能得到黑度足够的底片。所以降低管电压也是有一定限度的。完整的说法是：在能穿透工件的前提下尽可能地降低x射线管电压。 ;（3）透照距离的选择。焦距（射线源到胶片的距离）愈大，被检物体和胶片贴得愈紧，几何不清晰度愈小，在选择透照距离时，应将焦距选得大一些。但是由于射线的强度I与焦距F的平方成反比， 所以不能把焦距选得过大，不然透照时，射线强度将不够，所以焦距的选择应在满足几何不清晰度要求的前提下合理选择，一般在透照中，焦距的选择大多在600～800mm间;（4）曝光量的选择。曝光量E为射线强度I与曝光时间t的乘积，即E = I·t。曝光量的大小要能保证足够的底片黑度。如果管电压偏高，那么小的曝光量也能使底片达到规定黑度，但这样的底片灵敏度不够好，所以焦距为600mm时X射线照相的曝光量一般选择15mA·min以上。 ;（5）胶片与增感屏的选择。高梯噪比胶片具有细颗粒、高梯度，其底片对比度ΔD大，颗粒度小，裂纹检出灵敏度高，检测高强度钢焊缝，或用γ射线探伤时，宜选择此种胶片。 照相时根据射线能量选择不同厚度的铅箔增感屏或其它金属增感屏。铅箔吸收射线后放出二次电子，由于这种电子对胶片易于感光，因此用铅箔时感光度可提高2～7倍。而且铅箔能吸收散乱射线，使散射比n减小，从而提高底片的对比度。 （6）底片黑度控制。黑度D值增大，胶片G值也增大，因此一般来说，应使底片黑度D大些，但黑度过大，观片灯亮度不够就不容易看清了，所以底片黑度也不宜太大，一般规定底片黑度为1.5～4.0D的范围内， ;（7）象质计（透度计）的应用 象质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的。衡量该质量的数值是底片上能识别出的最细钢丝的线编号。我国标准规定使用线型象质计，用底片上必须显示的最小钢丝直径与相应的象质指数来表示照相的灵敏度。 所谓射线照相的灵敏度是射线照相能发现最小缺陷的能力，射线照相灵敏度分为绝对灵敏度和相对灵敏度。绝对灵敏度