GB/T 16526-1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法.pdf

ICS31.200 L 55 臀8 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T 16526一1996 封装引线间电容和引线负载电容 测 试 方 法 Testmethodmeasuringthelead-to-lead andloadingcapacitanceofpackageleads 1996一09一09发布 1997一05-01实施 国 家 技 术 监 督 局 发 布 GB/T 16526一 1996 前 言 本标准等效采用半导体设备与材料国际组织((SEMI)的国际标准SEMIG24-89Q测量封装引线的 引线间电容和负载电容》。 本标准可用于集成电路各类封装的引线间电容和引线负载电容的测量。 本标准的第3章是由SEMIG24-89的第3章和第4章合并而成，条款作了相应处理。同时删除了 SEMIG24-89中的表 1，修正7图2中的错误。 本标准由中华人民共和国电子工业部提出。 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归口。 本标准起草单位:上海无线电七厂、西安微电子技术研究所。 本标准主要起草人:叶曾达、王先春。 中华 人 民共 和国国家标准 封装引线间电容和引线负载电容 测 试 方 法 Gs/T 16526一 1996 Testmethodmeasuringthelead-to-leadand loadingcapacitanceof种ckageleads 1 范围 本标准规定了半导体集成电路封装引线间电容和引线负载电容的测试方法。 本标准适用于半导体集成电路陶瓷、金属、塑料封装引线间电容和引线负载电容测量。 2 设备和器材 2.1 电容仪 采用加屏蔽的两探针法，并配有两根同轴电缆的电容仪，也可采用加屏蔽的四探针法的电容仪.但 必须将四根探针在电缆端处改接成两探针。两种方法均要求用于屏蔽连接的绝缘线的线径大于等于 似.0mm,除非具体设备另有规定，应保持同轴电缆于最小长度<(1m)。电容仪的准确度为士2%,量程 范围为 。^-100pF。探针屏蔽必须连接在一起，连线长度应尽量短，大约为2.5cm-5cm, 2.2 探针台 配有两根同轴探针和一根普通探针的微动探针台(推荐使用同轴探针的型号为44-FPC-6000，普通 探针型号为OON-FPC-6000), 3 测试程序 3.1 测引线间电容 3.1.1 置电容仪测试频率选择开关于 1MHz，如果电容仪具有电缆长度选择开关，则调节开关选择适 当的同轴电缆长度。 3.1.2 将封装上所有最接近待测引线的引线连接在一起。例如对于68线陶瓷针栅阵列封装待测引线 周围的8根引线要连接在一起，对于124线陶瓷针栅阵列封装，待测引线周围的12根引线要连接在一 起;对所有的片式封装，待测引线周围的8根引线要连接在一起(见图1)。如果封装中有接电源的平面 和(或)大功率电源母线，则它们的引线应和上述的8根或 12根引线连接在一起。 3.1.3 把屏蔽探针放在3.1.2所提到的8根或12根引线中任一引线的内引出端，以保证这些引线不 影响测量 。 3.1.4 将两根同轴探针分别置于2个被测引线的内引出端上方约3mm处。 3.1.5 调零程序:如果使用的仪器是自动调零的，则根据仪器说明书测量电容。如果使用的不是这类仪 器，则必须在仪器调零后取读数。 3.1.6 将探针垂直放下，置于被测引线上，并读取电容读数。如果使用的是自动调零设备，则这一读数 就是要测的电容值，如果使用的不是自动调零设备，则应将读数减去3.1.5中的读数，即为要测的电容 国家技米监份局 1996一09一