集成式比特误码率测试仪在FPGA中的应用.DOCVIP

集成式比特误码率测试仪在FPGA中的应用 来源：互联网 随着高速数字系统的发展，高速串行数据被广泛使用，内嵌高速串行接口的FPGA也得到大量应用，相应的高速串行信号质量的测试也越来越频繁和重要。通常用示波器观察信号波形、眼图、抖动来衡量信号的质量，Xilinx提供的IBERT（Integrated Bit Error Ratio Tester）作为一种高速串行信号测试的辅助工具，使得测试更便捷，其具有不占用额外的I／O管脚和PCB空间、不破环接口信号的完整性、无干扰、使用简单和价格低廉等特点。 1 IBERT简介 IBERT是Xilinx提供用于调试FPGA芯片内高速串行接口比特误码率性能的工具，具备实时调整高速串行接口的多种参数、与系统其他模块通信及测量多通道误比特率等功能，支持所有的高速串行标准，包括：PCI Express、RapidIO、千兆以太网、XAUI等。使用IBERT核测试，只需通过JTAG接口下载设计并测试硬件，无需额外的管教和接口；大幅缩减了高速串行接口测试场景的建立和调试时间，是高速串行接口开发中理想的调试工具。 文中所述使用方法基于Xilinx的工具CoreGenerator12．4和ChipScope Pro Analyzer12．4进行描述，下面介绍使用IBERT的步骤，IBERT的操作分为两个阶段。 1．1 配置IBERT核，生成配置文件 （1）打开C