电子元器件的失效机理和常见故障分析.pdfVIP

工程应用 DOI :10 ． 3969 /j ． issn． 100 1-3824 ． 20 12 ． 03． 024 电子元器件的失效机理和常见故障分析 刘宇通 ( ， 473009) 河南工业职业技术学院机电工程系 河南南阳 : ， ， 。 、 摘 要 电子元器件在使用过程中 常常会出现失效和故障 从而影响设备的正常工作 分析了常见的电阻器类 、 、 。 电信器类 电感和变压器类以及集成块类电子元器件的失效模式和失效机理 失效原因和常见的故障现象 实践 : ， 。 证明 只有了解电子元器件的失效机理和常见故障 才能保证设备或系统的可靠性工作 : ; ; ; ; 关键词 电子元器件 失效 机理 缺陷 故障 中图分类号:TN60 文献标识码:A 文章编号:1005-3824 (2012)03-0092-05 1) ， 、 设计问题引起的劣化 指版图 电路和结构 0 引 言 等方面的设计缺陷; 电子设备中绝大部分故障都是由于电子元器 2) ， 、CMOS 体内劣化机理 指二次击穿 闭锁效 件故障引起的。 ， 如果熟悉了元器件的故障类型 只 应、 、 中子辐射损伤 重金属玷污和材料缺陷引起的 ［1］ 、 。 要通过简单的电阻 电压测量即可找出故障 、 ; 结构性能退化 瞬间功率过载等 电子电路或电子系统主要是由各种元器件组 3) ， 表面劣化机理 指钠离子玷污引起沟道漏 ， 成的 电子设备复杂程度的明显标志是所需元器件 、 、 ( )、 电 γ 辐射损伤 表面击穿 蠕变 表面复合引起小 ， 数量的多少 我们把电路系统丧失规定功能的现象 电流增益减小等; 称为电路故障。 ， 人们在故障诊断的实际中发现 元 4 ) ， 、 、 金属化系统劣化机理 指铝电迁移 铝腐蚀 ， 器件损坏的现象是很多 但是造成损坏的原因主要