核辐射物理及探测学.ppt

电离室 工作机制：入射带电粒子(或非带电粒子的次级效应产生的带电粒子)使气体电离产成电子－离子对，电子－离子对在外加电场中漂移，感应电荷在回路中流过，从而在输出回路产生信号。 输出信号：电荷、电流、电压。 是理想的电荷源。 是近似理想的电流源（条件：V(t)V0） 电压信号可通过对输出回路分析得出。 电离室的两种工作状态 脉冲工作状态 离子脉冲（慢、幅度与能量成正比h=Ne/C0） 电子脉冲（快、幅度与能量一般不成正比h=Q-/C0） 圆柱形电子脉冲电离室与屏栅电离室 累计工作状态 输出电流信号 输出电压信号及涨落 脉冲电离室的主要性能 能量分辨率 饱和特性——脉冲幅度与工作电压的关系 坪特性 ——计数率与工作电压的关系 探测效率：记下脉冲数/入射到灵敏体积内的粒子数 时间特性： 分辨时间：能分辨开两个相继入射粒子的最小时间间隔 时滞：粒子入射与输出信号的时间差 时间分辨本领：确定入射粒子入射时刻的精度 累计电离室的主要性能 饱和特性——输出电流信号与工作电压的关系 灵敏度 线性范围——一定工作电压下，输出信号幅度与入射粒子流强度的线性关系范围。 响应时间——反映入射粒子流强度发生变化时，输出信号的变化快慢。 能量响应——灵敏度随入射粒子能量而变化的关系 具有气体放大功能的气体探测器 非自持放电：正比计数器 输出信号幅度与沉积能量成正比。 自持放电：GM管 非自熄 自熄 有机 卤素 输出信号幅度与入射粒子的种类和能量无关。 正比计数器漏计数校正 真信号计数率m，分辨时间? 一信号与前一信号时间间隔小于?的概率为： 单位时间内由于分辨时间影响而丢失的计数为： 实际计数率： 校正公式： 条件： GM管漏计数校正 真信号计数率m，死时间? ，实际计数率n 单位时间内探测器死时间为： 单位时间内由于死时间影响而丢失的计数为： 校正公式： 闪烁探测器 辐射射入闪烁体使闪烁体原子电离或激发，受激原子退激而发出波长在可见光的荧光。 荧光光子被收集到光电倍增管(PMT)的光阴极，通过光电效应打出光电子。 电子倍增，并在阳极或打拿极输出回路输出信号。 第一打拿极收集到的光电子数是其信息载流子数目。 半导体探测器 类似气体探测器（信息载流子为：电子－空穴对），也称为固体电离室。 有三类 均匀型 PN结型 扩散结型、面垒型 高纯锗(HPGe) P－I－N型 锂漂移（锗锂Ge(Li)、硅锂Si(Li)） 各种探测器的能量分辨率 能量分辨率的表示 百分数表示 线宽表示(单位为KeV) 24Na的衰变纲图 24Na的NaI能谱 58Co的衰变纲图 58Co的NaI能谱 探测器的输出信号 1）电荷量： （电离室、半导体探测器） （正比计数器） （闪烁探测器） （GM管） 2）电流信号 气体和半导体探测器的电流信号的一般表达式：　 正比计数器： 闪烁探测器： 3）电压信号： 等效电路与输出回路时间常数 一般表达式 探测器的工作状态 （1）电流工作状态--反映粒子束流的平均电离效应，条件： 输出直流电流 电压 （2）脉冲工作状态--反映单个入射粒子的电离效应，条件： 电流脉冲工作状态： tc为载流子收集时间，电压脉冲形状与电流脉冲相似 电压脉冲工作状态： 电压脉冲为电流脉冲在电容上的积分，且有 （3）脉冲束工作状态--反映粒子束脉冲的总电离效应，辐射源为脉冲束源。条件 电离室 正比计数器 闪烁探测器 半导体探测器 考虑影响能量分辨率的各种因素时，谱仪的总分辨率： 第十二章 辐射测量方法 放射性样品的活度测量 相对法测量简便，但条件苛刻：必须有一个与被测样品相同的已知活度的标准源，且测量条件必须相同。 绝对测量法复杂，需要考虑很多影响测量的因素，但绝对测量法是活度测量的基本方法。 1) 小立体角法 2) 4?计数法 射线能谱的测定 单能?能谱的分析 1) 单晶?谱仪 主过程：全能峰——光电效应＋所有的累计效应；康普顿平台、边沿及多次康普顿散射；单、双逃逸峰。 2) 单能?射线的能谱 其他过程：和峰效应；I(或Ge)逃逸峰；边缘效应(次电子能量未完全损失在灵敏体积内)。 屏蔽和结构材料对?谱的影响：散射及反散射峰；湮没峰；特征X射线。 A B A B A+B SEB DEB A B C A B C 800+511 Ann. Rad. 各种?谱仪装置 1) 单晶?谱仪。 探测器 放大器 多道分析器 计算机 2) 全吸收反康普顿谱仪。 主探测器 符合环 前置放大 反符合 带门控的多道 前置放大 控制信号 测量信号 3) 康普顿谱仪(双晶谱仪)。 放大器 放大器 符合电路 带门控的多道 主探测器 辅探测器 测量信号 门控信号 4) 电子