电子测量技术频域测量.pptVIP

第8章　频域测量 在电测试技术中，所要测量的量与不同的参量相关。 如前面第四章的波形测试，就是测量信号随时间的变化规 律，叫时域测量。那么，频域测量自然是用所测参数随频 率的变化规律。 频域测量主要地包括二大部分部份内容：模拟线性系 统频率特性的测量、模拟信号的频谱分析。 前者用二十世 纪六十年代发展起来的扫频图示技术进行测量最为广泛， 而后者一般采用频谱分析仪进行测量的分析。本章就从这 两方面来加以介绍。 8.1 线性系统描述 线性系统,是一个能用线性微分方程描述的系统。 它具 有频率不变性和迭加性。前者是指系统输出信号的频率与 系统输入信号的频率相同，不会发生任何变化。后者是指 对系统可用电路理论中的迭加原理进行分析。 线性系统通常用传递函数来描述，即系统的初始状态 为零的条件下，系统输出的拉氏变换与输入的拉氏变换的 比： （8-1） 式中：Y（s）、X（s）为输出和输入函数的拉氏变换； H（s）为系统的传递函数。 （8-2） 很显然，H（jω）是一个复函数。因此，可用幅频特 性| H（jω）|和相频特性φ（ω）来全面表征一个系统的 频率特性： （8-3） （8-4） 由式（8-3）、（8-4）可见，系统在频率函数的激励下 ，不但输出的幅度要发生变化，而且输出的相位也会改变 。要了解这种特性，就要进行频率特性测量。 8.2 线性系统频率特性的测量 线性系统频率特性测量，经典的测量方法是采用正弦 点频法， 这是一种静态测量方法，而广为采用的是正弦波 扫频测量，即动态测量。本节就对这两个问题进行介绍。 8.2.1 正弦点频法测量 正弦点频法又叫逐点测量法，如图8-1所示。信号源提 供可调的正弦波电压；电子毫伏表V监测被测电路输入电 压大小（保持其恒定）；电子毫伏表Vo指示被测电路输出 电压；双踪示波器用来监测输入、输出电压的波形。测量 时，每改变一次信号源频率，都要保持被测输入U值不变 ，测出输出Uo ，同时监测波形不能畸变。当测完一组数据 后，做出20lg ～f曲线。 图8-1 正弦点频法原理框图 点频法的优点是简单易做。但缺点是：繁琐费时，每 改变一次电路元件参数须重新逐点测试一遍，当调节元件 多时，其工作量是很大的；数据不连续，对于在某一频率 下的突然变化可能会漏掉；误差大，往往与实际工作状态 时的特性不一致。此外，不能自动化，只能测出静态特性. 上述方法只是测量了电路的幅频特性，如果双踪示波器 能测出输出与输入的相位差的话，也可以做出相频特性， 只是做出的相频特性误差很大。所以，为测得较好的相频 特性可采用矢量电压表来测量。矢量电压表采用了取样技 术和锁相技术，不但能测信号的幅度，还能测量信号的相 位，其工作频率范围也很宽，在频域测量中是一种十分有 用的工具。 8.2.2 扫频测量技术 前述点频法只能测静态特性，而且速度也慢。当前， 商业化产品的要求是，通过测量获得被测系统的全面表征 ，同时在测量调试时要简捷快速。所以，扫频测量便迅速 发展起来了。 所谓扫频，就是利用某种方法，使正弦信号的频率随 时间按一定规律在一定范围内反复扫动。这种扫动（幅度 不变）的正弦信号，就叫“扫频信号”。 有了扫频信号，再配上图示技术，使测试电路的幅频 特性简捷快速，并能测量其动态特性。 （一）.扫频图示的原理 按照图示法的显示原理可分为光点扫描式和光栅增辉 式两种方法。下面我们以光点扫描式来分析扫频图示的原 理（另一显示方法在后面专门加以介绍）。 图8-2是光点扫描式的原理框图。由图可知，他与示波 器有雷同的地方，只是锯齿波发生器的锯齿波电压除一路 经X放大后驱动光点水平扫描外，另一路去控制产生扫频 信号，其扫频信号经被测电路后再检波和放大，然后加在 Y偏转板上，则CRT上显示出被测电路幅频特性曲线。 由于扫频信号随锯齿波电压线性变化，而光点的X方向 扫描也随锯齿波电压线性变化， 则屏上的水平轴就转化为频率轴了（示波器是转化为时间 轴）。 图8-2 光点式扫频图示仪框图 对于被测电路，因自身的频率特性，在同幅的不同频率信 号作用下输出的幅度不同（图中的u），经峰值检波后就得 到幅频特性（图中的u），这个信号经放大后加在Y 偏转板 上（示波器Y板则是加被测模拟信号）。因图示方法是通 过光点扫描而得到连续的幅频特性，故叫光点扫描式。