X射线荧光光谱测量大理石产品中主量元素.docVIP

PAGE PAGE 4 X-射线荧光光谱测量大理石产品中主量元素 崔世文 杨武 黄乃航 胡一飞 （广东省质量监督石材产品检验站， 广东 云浮 523700） 摘要：本文采用熔融玻璃片法，使用X-射线荧光光谱仪测量大理石产品中Ca、Mg、Si、Fe、Al等主量元素的荧光强度，并与测量标准物质所建立的标准曲线进行对比计算，确定测试样品中的含量。该方法简单、快速、准确，通过试验证明，采用X-射线荧光光谱法测量的标准样品与标准值偏差较小，与化学法测量的结果相符。采用X-射线荧光光谱法所测大理石产品中的各元素相对标准变差RSD＜1.5%，精密度高。 关键词：熔融玻璃片法；X-射线荧光光谱；主量元素 X射线荧光光谱仪作为常规分析手段，始于20世纪50年代，经历了50年的发展，现已成为物质组成成分分析的必备方法之一。在矿物质的分析应用领域，X射线荧光光谱法多采用熔片及粉末压片制样法。熔片法是X射线荧光光谱法制备样品的最优技术，它可以完全消除颗粒粒度效应及矿物效应，从而获得更好的准确性；粉末压片法操作简单，快速，但由于矿物效应和粒度效应的影响，使得粉末压片法制样的测试结果难以满足分析精度的要求。采用熔片法制备出一定精度的熔片，进而得到可以接受的准确的分析结果的一个要求，就是制备出的样品必须平整，样品中无残留气泡，且测量面是光滑的，现代端窗X射线管的X射线荧光光谱法，对这一要求变得很关键，样品平整度的微小变化及样品中含有气泡都易引起X光强度的明显差异。 天然大理石是地壳中原有的岩石经过地壳内高温高压作用形成的变质岩。属于中硬石材，主要由方解石、石灰石、蛇纹石和白云石组成。其主要成分以碳酸钙为主，约占50%以上。其他还有碳酸镁、氧化钙、二氧化硅等。 采用X-射线荧光光谱法具有分析速度快、精密度高、重现性好、一次可给出多种组分信息等优点。作为一种实时、在线分析，X-射线荧光光谱法能够准确及时给出检测结果；且随着计算机技术的发展，X-射线荧光光谱仪已经在研究、分析等领域[1-3]的应用越来越广泛[4]。 实验部分 1.1 工作曲线建立 本文实验采用国家一级标准物质10个光谱纯CaO。其中8个用于标准曲线的建立，2个用于标准曲线验证。 标准物质含量范围如下： 表1标准物质含量范围（%） 组分 CaO MgO SiO2 Al2O3 Fe2O3 最大值 56.00 20.37 15.60 5.03 2.52 最小值 25.32 0.21 0.10 0.012 0.057 大理石产品主要成分为碳酸盐，化学组成简单。我们采用熔融玻璃片法制样，可以完全消除矿物效应和颗粒粒度效应，使熔片在原子水平达到均匀。 1.2 仪器设备 1.2.1 X-射线荧光光谱仪：帕纳科PW4400/40； 1.2.2 熔样机：GHB-K1高频熔样机，熔样温度 1.3 试剂 1.3.1 熔剂：66Li2B4O7/33LiBO2（AR），熔剂与试验比一般控制在10：1； 1.3.2 氧化剂：不含待测元素的硝酸铵（AR）； 1.3.4 脱模剂：溴化锂和碘化铵； 1.4 分析方法 熔融玻璃片法制样相对于粉末压片法有一定的难度，但熔融玻璃片法干扰因素少，可有效降低元素箭的吸收—增强效应，消除试样的粒度、集体及矿物效应，重复现性好。我们采用高频熔样机进行样品制备。 样品首先在105℃鼓风烘箱中烘干至少2小时，取出放置于干燥器内冷却至室温。准确称取0.6000g试样，6.000g溶剂放入铂金坩埚内混合均匀，滴加5~10滴脱模剂，放入高频熔样机中。预设700℃氧化5分钟，1050℃下熔样10分钟，启动熔样机熔样，形成32mm大小的玻璃样片，冷却后待测。 采用X-射线荧光光谱法测试，仪器参数的选择对样品的准确测量有着重要的影响。采用熔融玻璃片法制样，可以不考虑试样的溢出问题，但要考虑低含量元素的稳定性，适当延长测量时间，可以改善测量的准确性。 仪器测试条件选择如下： 表2 仪器测试条件 分析 元素 分析线 Line 分析晶体 X-tal 准直器 Collimator 探测器 Detector 电压 kV 电流 mA PHD/LL PHD/UL Ca Kα LiF200 150μm Flow 24 100 30 70 Si Kα PE002 150μm Flow 24 100 25 75 Al Kα PE002 150μm Flow 24 100 25 75 Mg Kα PX1 550μm Flow 24 100 35 65 Fe Kα LiF200 150μm Scint 50 50 19 65 1.5 基体校正和谱线重叠校正 PW PW4400/40所配套的操作软件为SuperQ5.0，其校正模式是以计数率、浓度或两者为基础的综合模式，其数学表达式为： 为校正样品分析元素的含量