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集成电路测试和可测性设计 IC Testing and Design for Testability 教学大纲 课程名称：集成电路测试和可测性设计 课程编号：M702004 课程学分：3 适用学科：集成电路工程、电子科学与技术 一、课程性质 本课程的授课对象为集成电路工程专业研究生和电子与科学技术专业研究生，课程属性为专业基础必修课（对电子与科学技术专业研究生为专业选修课）。本课程主要讲授集成电路测试尤其是大规模集成电路测试的基本概念、基本方法，数字集成电路测试向量生成算法、可测试性设计、可测试性度量、数模混合信号电路测试方法以及测试设备和测试过程等内容。通过基本思想、基本算法的引入、推导并配以大量的实例进行分析，使学生能够对测试相关理论有全面的理解，并能够利用所学的方法解决实际的电路测试及可测试性设计方面的问题。 二、课程教学目的 学生通过本课程的学习，应能够理解集成电路测试及可测性的基本概念、基本思想；掌握重要的测试向量生成算法以及典型的可测性设计的结构；了解集成电路测试的发展趋势及面临的主要问题。通过利用可测性设计方法构建实际的可测性方案，锻炼培养解决测试问题的实践动手能力。同时通过对主要算法的发展历程、思想演变等的学习，培养发现问题、解决问题的能力以及创新思维。为今后从事集成电路测试方面的工程或研究工作打下基础。 三、教学基本内容及基本要求 第一章 测试理论基础 教学内容