光缆知识摸底测试报告.docVIP

\\ MLC项目通信传输系统 光缆测试报告 北京建谊建筑工程有限公司 2010年7月21日 光缆测试说明 通信系统说明 MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套2.5G传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。 光纤使用说明 1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤； 2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤； 3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，新敷设1根24芯光纤； 4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤； 5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤； 6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）； 此次测试针对以上6部分进行。 测试仪器 采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。 相关图纸 《MLC项目通信系统光纤传输路由图》 光缆测试内容 光缆测试包括以下内容： 光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）； 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减； 具体说明如下： 光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆； 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减； 测试目的 序号 测试内容 测试目的 合格标准 备注 1 光缆熔接损耗 检查光纤熔接质量 每个熔接点损耗＜0.08dB 光纤熔接规范 2 西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减 检查光纤链路质量 ＜25dB 通信设备对光衰减的要求 3 西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减 检查光纤链路质量 ＜25dB 通信设备对光衰减的要求 4 京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减 检查光纤链路质量 ＜15dB 通信设备对光衰减的要求 光缆测试记录 西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录 在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下： 光纤芯数 合格标准 （双向测试平均值） 测试地点：8层MLC机房 测试地点：7层通信配线间 双向测试取平均值 是否合格 8层熔接点损耗 7层熔接点损耗 8层熔接点损耗 7层熔接点损耗 8层熔接点损耗 7层熔接点损耗 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□ 否□ 每个熔接点损耗＜0.08dB 是□