从锻件侧面作径向检测时探头在锻件侧面扫查复习课程.ppt

应用物理教研室; 锻件检测方法概述 检测条件的选择 扫描速度和灵敏度的调节 缺陷位置和大小的测定 缺陷回波的判别 锻件质量级别的评定 锻件检测应用实例;(2) 斜探头周向检测和轴向检测 当缺陷呈径向或与轴线呈一定角度时，用斜探头做正、反两个方向的全面扫查。; 2.饼类、碗类锻件检测; 3.筒形或环形锻件检测;(2) 斜探头检测：轴向检测：发现与轴线垂直的缺陷； 周向检测：发现与轴线平行的缺陷。;二.检测条件的选择; 2. 纵波直入射法检测面的选择; 饼形锻件; 3. 试块选择; 工件检测距离小于45mm时，应采用双晶探头和CSⅡ标准试块来调节检测灵敏度。;13; 当检测面为曲面时，应采用 CS Ш标准试块来测定由于曲率不同引起的耦合损失。;三.扫描速度与灵敏度的调节; 底波调节法：当锻件被探测部位厚度x≥3N，且锻件具有平行底面或圆柱曲底面时，常用底波来调节灵敏度。 ;(2) 调节：探头对准完好区的底面，调“增益”使底波B1达基准高度，然后用衰减器增益ΔdB即可。 ;[例1] 用2.5P20Z探头径向检测Ф500mm的实心圆柱体锻件，cL=5900m/s，问如何利用底波调节500mm/Ф2灵敏度？;[例2] 用2.5P20Z探头径向检测外径为Ф1000mm、内径为Ф100mm的空心圆柱体锻件，cL=5900m/s，问如何利用底波调节450mm/Ф2灵敏度？; 试块调节法 (1) 单晶探头检测：当锻件的厚度x3N，应利用具有人工反射体的试块来调节灵敏度，如CSⅠ和CSⅡ试块。调节时将探头对准试块的平底孔，调 “增益”使平底孔回波达基准高度即可。;[例2] 用2.5P14Z探头检测底面粗糙厚为400mm的锻件，问如何利用100/Ф4平底孔调节400/Ф2灵敏度？试块与工锻件表面耦合差6dB。;(2) 双晶探头检测：采用双晶探头检测时，要利用CSⅡ试块来调节灵敏度。 先根据检测要求选择相应的平底孔试块，并以此测试一组距离不同直径相同的平底孔回波，使其中最高回波达满刻度的80%，在此灵敏度条件下测出其它平底孔的回波最高点，并标在示波屏上，然头连接这些最高点，从而得到一条平底孔距离-波幅曲线，并以此作为检测灵敏度。;;四、缺陷位置和大小的测定; 2. 缺陷大小的测定;(1) 平面工???检测 6dB测长法:;(2) 圆弧面检测 6dB测长法; 3. 密集缺陷回波 锻件检测中，示波屏上同时显示的缺陷回波很多，缺陷之间的间隔很小，甚至连成一片，这种缺陷回波称为密集缺陷回波。 一般规定在边长50mm的立方体内，数量不少于5个，当量直径不小于Ф2mm的缺陷为密集缺陷。;白点分布; 4. 游动回波 在圆柱形轴类锻件检测过程中，当探头沿着轴的外圆移动时，示波屏上的缺陷波会随着该缺陷检测声程的变化而游动,这种游动的动态波形称为游动回波。; 5. 底面回波 当缺陷回波很高，并有多次重复回波，而底波严重下降或消失时，说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。;六.锻件质量级别的评定;3. 密集区缺陷质量分级。;例1：用2.5P20Z探头检测400mm厚的锻件，钢中声速cL=5900m/s，衰减系数α=0.005 dB/mm，检测灵敏度为400mm/Ф4mm平底孔。检测中在250mm处发现一处缺陷，其波高比基准波高20dB，试根据JB-T 4730-2005标准评定该锻件的质量级别。;例2：用2.5P20Z探头检测面积为400cm2的锻件，检测中发现一密集缺陷，其面积为24 cm2，缺陷处底波为30dB，无缺陷处底波为44dB。试根据JB-T 4730-2005标准评定该锻件的质量级别。;25 55 150 15 Φ4+11dB Ⅲ级 ;Xian Polytechnic University