第二章光电检测器件工作原理及特性(15).ppt

光电测试技术 3.热噪声（约翰逊噪声 Johson） 载流子无规则的热运动造成的噪声。 导体或半导体在温度高于0K时，每个电子都携带有一定的电量做随机运动，产生瞬时电流的扰动，在导体两端形成的均方根电压称为热噪声电压。 光电测试技术 4. 温度噪声 环境温度与自身温度随机起伏所引起的噪声称为温度噪声。 当 ?1时，简化为 光电测试技术 5.闪烁噪声（ 1/f噪声,低频噪声） 几乎所有的探测器都有这种噪声。闪烁噪声的均方值与频率的倒数成比例. 其中， 只要频率高于1KHz，就可以消除。 光电测试技术 如：光敏电阻在偏置电压作用下产生信号光电流，由于光敏层内部结构不均匀产生微火花电爆放现象。这种微火花放电引起的电爆脉冲就是低频噪声的来源，又被称为电流噪声。 C1为与材料有关的常数，I为流过光敏电阻的电流，f为调制频率，指数b为接近于1 的系数 ， 为调制频带的带宽 。 光电测试技术 补充作业： 外光电效应的两个基本定律是什么？ 探测器的噪声主要有哪几种？写出它们的估算公式。 光电测试技术 红外线热释电传感器对人体的敏感程度还和人的运动方向关系很大。 红外线热释电传感器对于径向移动反应最不敏感,而对于横切方向(即与半径垂直的方向)移动则最为敏感. 在现场选择合适的安装位置是避免红外探头误报、求得最佳检测灵敏度极为重要的一环。 光电测试技术 2）辐射热计效应 入射光的照射使材料由于受热而造成电阻率变化的现象称为辐射热计效应。 为电阻温度系数， 温度变化足够小时，有 光电测试技术 对于金属材料，电阻与T成正比，即R=BT， 此时，电阻温度系数与温度成反比。 对于半导体材料，电阻与温度成指数关系， 光电测试技术 3）温差效应 两种不同材料制成的结点由于受到某种因素作用而出现了温差，就有可能在两结点间产生电动势 ，称为温差电效应 。 光电测试技术 温差电效应 两种不同材料制成的结点由于受到某种因素作用而出现了温差，就有可能在两结点间产生电动势，回路中产生电流，即温差电效应。 帕尔贴系数表示单位电流在通过接头时所吸引或放出的热功率。 光电测试技术 热电检测器件： 热释电检测器 热敏电阻 热电偶 热电堆 特点： 1. 对波长无选择性； 2. 响应慢（ms级）； 光电测试技术 光子检测器件（通常的光电检测器件）： 1.电真空或光电发射型检测器件 （光电管，光电倍增管） 2. 固体或半导体检测器件 （光敏电阻，光电二，三级管，光电池等） 特点： 1.响应波长有选择性； 2.响应速度快（纳秒~百微妙）。 1、有关响应方面的特性参数 响应度、光谱响应度、积分响应度、响应时间、频率响应 2.2光电检测器件的特性参数 1）响应度（或称灵敏度） 定义为光电检测器输出电压 V0或输出电流 I0与入射光功率P（或通量 Φ）之比。 2）光谱响应度 光电检测器的输出电压或输出电流与入射到检测器上的单色辐通量（光通量）之比。 电压响应度： 电流响应度 ： 光谱响应度是表述入射的单色通量或光通量所产生的检测器的输出电压（或电流）。它的值愈大意味着检测器愈灵敏。 3）积分响应度 积分响应度表示检测器对各种波长的辐射光连续辐射通量的反应程度。 总通量： 光电流： 积分响应度： 不同的辐射源，或不同色温的同一辐射源所发生的光谱量分布也不同，因此提供数据时应指明采用的辐射源及其色温。 4）响应时间 当入射辐射到光电检测器后或入射辐射遮断后，光电检测器的输出上升到稳定值或下降到照射前的值所需时间称为响应时间。 上升时间 ： 10%?90% tr 下降时间：90%?10% tf 5）频率响应 光电检测器的响应随入射辐射的调制频率而变化的特性称为频率响应 S(f):频率为f时的响应度； S0:为频率是零时的响应度； λ:为时间常数（等于RC） 上限截止频率： 2）衡量噪声的参数 信噪比、等效噪声输入、噪声等效功率、 暗电流等。 （1）信噪比（S/N） 在负载电阻上产生的信号功率与噪声功率之比 。 分贝（即dB）表示 （2）等效噪声输入（NEI） 器件在特定带宽内（1Hz）产生的均方根 信号电流恰好等于均方根噪声电流时的输入通量。 输入通量以瓦或流明表示。 （3）噪声等效功率（NEP，最小可探测功率Pmin) S/N=1时，入射到探测器件上的辐射通量（瓦） NEP越小，噪声越小，器