超声检测换试必考工艺题及综合题.ppt

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2、双晶直探头试块 a) 工件检测距离小于45mm时,应采用CSⅡ标准试块。 b) CSⅡ试块的形状和尺寸应符合图5和表5的规定。 表5 CSⅡ标准试块尺寸 mm 试块序号 孔径 CSⅡ-1 φ2 CSⅡ-2 φ3 CSⅡ-3 φ4 CSⅡ-4 φ6 检测距离L=5,10,15,20,25,30,35,40,45. 图5 CSⅡ标准试块 3、双晶直探头基准灵敏度的确定 使用CS Ⅱ试块,依次测试一组不同检测距离的φ3平底孔(至少三个)。调节衰减器,作出双晶直探头的距离-波幅曲线,并以此作为基准灵敏度。 扫查灵敏度一般不得低于最大检测距离处的φ2mm平底孔当量直径。 4、钢锻件超声横波检测 附录C适用于内、外径之比大于或等于80%的承压设备用环形和筒形锻件的超声横波检测。 ? C.2 探头 C.2.1 探头公称频率主要为2.5MHz。 C.2.2 探头晶片面积为140 mm2~400mm2。 C.2.3 原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头。 C.3 灵敏度校准试块 为了调整检测灵敏度,可利用被检工件壁厚或长度上的加工余量部分制作对比试块。在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽。V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°。也可采用其他等效的反射体(如边角反射等)。 C.4 检测方法 C.4.1 扫查方式 C.4.1.1 扫查方向见图C.1。 C.4.2 基准灵敏度的确定 从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满刻度的80%,将该值标在面板上,以其为基准灵敏度;不改变仪器的调整状态,再移动探头测定外圆面的标准沟槽,并将最大的反射高度也标在面板上,将上述两点用直线连接并延长,绘出距离-波幅曲线,并使之包括全部检测范围。内圆面检测时基准灵敏度也按上述方法确定,但探头斜楔应与内圆曲率一致。 直探头检测验收标准 试题举例 2、接管锻件如图2所示,焊接前需要用2.5P20Z和2.5P14×16K1探头对锻件进行检测,请按JB/T4730.3-2005标准,确定校验反射体(试块或大平底)、扫查面以及扫查方向,说明理由,并叙述灵敏度校验方法。 答: (1)直探头:由于2.5P20Z探头近场为42.4mm,3N=127mm,不能用锻件大平底校验,所以采用CSⅠ标准试块; 斜探头:采用深度为0.072mm、60°V型槽试块。 (2)扫查面及扫查方向:由于外表面有斜面,所以圆周面上的扫查宜在内表面进行;两端面中一个端面的截面厚度仅有12mm,不宜扫查,所以仅在一个端面扫查,如图所示。 (3)灵敏度校验方法: ①直探头圆周面扫查:用CSⅠ-1、CSⅠ-2和CSⅠ-3试块做DAC曲线。 ②端面扫查:探测深度500mm,用CSⅠ-4试块校验灵敏度,需要表面补偿,如2dB。方法是:把φ2/200的平底孔回波调至80%满屏高度,然后提高18dB(40lg500/200+2=18dB)。 ③斜探头扫查:用60°V型槽试块做DAC曲线。 3、锻件检测时要特别关注游动回波,请回答: (1)什么是游动回波? (2)说明下列缺陷游动回波的特点: ①体积状缺陷; ②切向裂纹; ③径向裂纹。 答: (1)在圆柱形轴类锻件检测过程中,当探头沿着锻件的外圆移动时,示波屏上的缺陷波会随着该缺陷检测声程的变化而游动,这种游动的动态波形称为游动回波。 (2)体积状缺陷:声程从大→小→大,波高从小→大→小; 切向裂纹:变化规律与体积状缺陷相同,但反射波会急剧增大; 径向裂纹:声程从大→小→大,波高从大→接近于零→大。 JB/T4730.3-2005关于钢板超声检测的解释: 1、纵波检测: 1)、探头: 板厚6~20mm, 双晶直探头, 5MHz, 晶片面积不小于150mm2; 20~40mm, 单晶直探头, 5MHz, φ14~φ20 mm; 40~250mm, 单晶直探头, 2.5MHz, φ20~φ25 mm. ◆钢板 2)、试块 用单直探头检测厚度大于20mm的钢板时,CBⅡ标准试块应符合图2和表2的规定。试块厚度应与被检钢板厚度相近。经合同双方同意,也可采用双晶直探头进行检测。 图2 CBⅡ标准试块 表2 CBⅡ标准试块 mm 试块编号 钢板厚度 距离s 试块厚度T CBⅡ-1 20~40 15 ≥20 CBⅡ-2 40~60 30 ≥40 CBⅡ-3 60~100 50 ≥65 CBⅡ-4 1

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