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加速寿命试验方法;目录;前 言;LED寿命试验方法;定 义;样品及试验应力;失效判据;*;失效时间和失效数的确定;8.2.2 试验截止时间必须保证LED的初始光通量（或光功率）产生足够的退化，为减少试验数据的误差，第一个数据点的退化量应大于仪器测量误差，可以采用图估法(在概率纸上描点划线或运用计算机)进行线性拟合，选取偏离直线最小、光输出衰减较大的试验数据点，该数据点的累计时间即为试验截止时间，通过公式8.2-2计算给定结温下的失效时间（工作寿命Lc,i），这样可以缩短试验时间。 8.2.3通???某一产品光通量退化系数和试验截止时间外推某一结温下的加速寿命时，可有以下2种方式： （1）若光功率的初始值一直下降，如图8.2－1所示，则加速寿命为Lc,i＝ T，则可直接用退化系数外推求得。;*;数据处理方法;9.3 激活能 通过公式8.2-1、9.2-1、 9.2-2求出激活能Ea 9.3-1 式中：Tj,(i-1)、Tj,i 为不同试验环境温度下的结温。 9.4正常工作环境温度(Ta＝25℃)下的平均寿命Lc,0 通过公式9.3-1求得 9.4-1 Lc,0为工作环境温度（25℃）下的平均工作寿命；Tj,0 为某一工作环境温度下的 结温。;10试验数据处理结果有效性的判断 可按GB 2689.2－81采用图估法检验加速模型和判断失效数据的取舍是否恰当。 11试验报告 试验报告应包括以下内容： a.试验目的 b.失效判据 c.试验样品及应力的选择和试验说明 d.试验和测试设备的名称、型号及精度 e.试验数据的处理及平均寿命计算 f.试验的验证及失效分析 g.试验结论;光功率缓慢衰退的单一失效判据试验案例;图12-1 F008型功率型LED结构示意图;12.2 试验数据获取和处理 12.2.1不同环境温度Ta,i下165℃、175℃、185℃的试验数据ti和Pt,i，由公式8.2-1、 8.2-2计算退化系数βi,并得到试验寿命Lc,i（如表10.2.1-1、表10.2.1-2、表10.2.1-3 所示）。;管 号;管 号;12.2.2根据热阻、正向电压、正向电流为350 mA和环境温度由公式9.2-2、求出结温及其相关试验数据（如表10.2-4.所示）。 由9.3-1、9.4－1计算激活能和平均寿命。;结 温 (K);加速模型检验; 12.4威布尔 图估验证 加速寿命试验中用概率纸图估试验结果直观形象，一般用于监视和验证试验过程是否出现异常现象。我们从威布尔分布图估法（GB 2689.2－81 ）验证的案例结果可以看出： （1 ）由形状参数m可以看失效模式。（当m＜1时 为早期失效；m＝1为偶然失效工作期，此时失效率接近于常数，此时样品的寿命分布为指数分布）m＞1为磨损失效期，（本案例m=6.64）。在高温（165℃－185℃）下LED器件的芯片会加速退化，而且封装材料也会加速老化，使其透光性能变差，表现为光功率的加速衰退，这是本案例的工作寿命进入到磨损失效期m值较大的主要原因。 （2）不同温度下的LED寿命数据点的分布符合威布尔分布，即使在产品很少的取样数下(n=5)，数据点在威布尔分概率纸上均能够呈现较好的线性拟合。 （3）LED器件的失效虽受多种随机变量的影响，这些变量包括电、热失效机理的芯片和热失效机理的封装材料，由它们组合的多重影响，在概率纸上能够呈现符合预期的威布尔分布。。;*;表10.3.2.不同温度应力下的失效时间和累计失效