电分析化学续1教学文稿.pptxVIP

电化学储能材料的性能测试（电池与超级电容器）;●电化学交流阻抗测试 电化学交流阻抗是电分析化学的主要方法之一，是一种以小振幅的正弦波电位为扰动信号的电测量技术。在锂离子电池和电容器材料的应用中是将小振幅的正弦波信号作用于电极，使电极电位在平衡电位附近产生扰动，测得电极阻抗，然后通过和等效电路进行模拟分析电池或电容器内部的动力学过程和机理，进而对材料的性能进行分析。; 1.7V有一个明显的氧化峰，为锂离子的脱出过程，1.48V的还原峰位锂离子的嵌入过程。两者峰形相似，对称性较好，氧化峰电流与还原峰电流相等，表明该中空结构纳米材料Li4Ti5O12电极材料在嵌锂和脱锂的过程中，动力学性能较好。;左图为中空Li4Ti5O12作为锂电池负极材料，在1-2.5V范围内在不同电流密度下的首次充放电曲线，其中1C=175mAh/g.在不同的电流密度（0.2C, 1C, 2C)下进行充放电，材料均表现出了比较明显的充放电平台，从0.2C增大到2C，放电电压平台和充电电压平台的电位差依次略微增大，表明随着电流的增大，极化增大。在0.2C下，放电电压平台为1.47V，充电电压平台为1.68V,与CV曲线在1.48V和1.7V分别有一个较强的还原峰和一个较强的氧化峰对应。0.2C下首次放电容量为174mAh/g，2C时为138mAh/g，达到初始容量的79%。;●锂离子电池研究中EIS的应用;左图为EIS图谱的应用举例。 样品的阻抗谱图主要由一个高中频区的半圆和一条低频区的直线构成。高中频区半圆主要是由电解液和正极材料之间的化学反应引起，主要包括材料颗粒表面形成的SEI膜的迁移电阻，颗粒之间的接触电阻等。而低频区的直线主要由Warburg阻抗引起，为离子的扩散电阻。;●交流阻抗测试（EIS） 交流阻抗法是一种利用小幅度交流电压或电流对电极扰动，进行电化学测试的方法。从获得的交流阻抗数据，可以根据电极的摸拟等效电路，计算相应的电极反应参数。若将不同频率交流阻抗的虚数部分对其实数部分作图，可得虚、实阻抗(分别对应于电极的电容和电阻)随频率变化的曲线，称为电化学阻抗谱(electrochemical impedance spectrum-EIS)或交流阻抗复数平面图。利用EIS研究电化学系统的基本思路???将电化学系统看做一个等效电路，利用EIS确定等效电路构成及个元件的大小，再利用这些电化学元件的含义，分析电化学过程。;常规的锂电池EIS图，正极材料一般没有第一个半圆，即没有明显的EIS膜形成过程，等效电路也和此图不一样，如下图所示：;锂离子在嵌合物电极中的脱出和嵌入过程的典型EIS 谱包括5 个部分: (1) 超高频区域(10 kHz 以上) ，与锂离子和电子通过电解液、多孔隔膜、导线、活性材料颗粒等输运有关的欧姆电阻，在EIS 谱上表现为一个点，此过程可用一个电阻Rs表示;(2 ) 高频区域，与锂离子通过活性材料颗粒表面绝缘层的扩散迁移有关的一个半圆，此过程可用一个RSEI /CSEI并联电路表示。其中，RSEI即为锂离子扩散迁移通过SEI 膜的电阻;(3) 中频区域，与电荷传递过程相关的一个半圆，此过程可用一个Rct /Cdl并联电路表示。Rct为电荷传递电阻，或称为电化学反应电阻，Cdl为双电层电容;(4) 低频区域，与锂离子在活性材料颗粒内部的固体扩散过程相关的一条斜线，此过程可用一个描述扩散的Warburg 阻抗ZW表示;?( 5 ) 极低频区域( 0. 01Hz) ，与活性材料颗粒晶体结构的改变或新相的生成相关的一个半圆以及锂离子在活性材料中的累积和消耗相关的一条垂线组成，一般很少测0.01Hz以下的频率范围;基于CV曲线的电容器容量计算，可以根据下式计算：;●通过循环伏安曲线测定电容量; 对于电极的电容性能来说，其质量与电容量比值（比容量），即单位质量的电极活性材料的电容量值(F/g)更能反映出材料储存电荷的能力。因此，电极的比容量为：;实际计算中常常计算的是平均电容量。;●通过恒电流充放电曲线测定电容量;根据电容的定义，可以得到如下公式：;总 结;恒流充放电测试可以确定电极材料的充放电曲线、比容量的高低、倍率特性、循环性能等参数。通常采用先恒流充电，然后恒压充电，隔一段时间后恒流放电。充电时按电池的比容量大小及放电倍率设定充电电流，进行恒电流充电，至设定电压后，用测试系统自动跳入恒压充电。恒压充电一定时间后静置，接着恒流放电至设定的安全电压，恒流放电设置与恒流充电类似。最好测试时处于温度相对恒定的环境，循环多次充放电以求稳定数据。 下图显示的是纽扣电池典型的充电（绿色）和放电（蓝色）。将电压（深色）和电流（浅色）对时间作图。电池在电流40m