第5章(续)-晶体矿物的光学性质.pptVIP

第五章 晶体矿物的光学性质 第一节 单偏光镜下的晶体光学性质 第二节 正交偏光镜下的晶体光学性质 第三节 锥光镜下的晶体光学性质 第四节 透明矿物薄片的系统鉴定 第一节 单偏光系统下晶体的光学性质 单偏光系统: 在只使用下偏光镜(起偏镜)的情况下,观察和测定矿物的光学性质的系统. 单偏光镜下研究：就是在观察、测定矿片的光学性质时只使用下偏光镜，即称之为单偏光系统。 由光源发出的自然光波，通过下偏光镜后，变成振动方向平行下偏光振动方向PP的偏光。 1)当载物台放置均质体矿片时，偏光射入该晶体后不改变振动方向 2)当载物台放置非均质矿片时，若其光率体椭圆半径之一与PP方向平行时，由下偏光镜透出的振动方向平行PP的偏光，进入矿片后沿该半径方向通过矿片不改变振动方向，此时，矿片的折射率等于光率体椭圆半径长短； 3)当矿片的光率体椭圆半径与PP斜交时，光波进入晶体后则发生双折射，分解形成振动方向分别平行光率体椭圆长短半径的两束偏光，其折射率分别等于椭圆的长短半径。 第一节 单偏光系统下晶体的光学性质 主要研究内容 二. 解理及解理夹角 5 解理夹角的测定 第一节 单偏光系统下晶体的光学性质 三. 薄片中矿物的颜色,多色性和吸收性 二 多色性和吸收性 贝克线移动的规律 提升镜筒，贝克线向介质折射率大的一侧移动； 下降镜筒，贝克线向介质折射率小的一侧移动。 用途: 据贝克线和移动方向可以判断相邻二介质折射率的相对大小. 注意观察贝克线需要缩小光圈。 第二节. 正交偏光系统下晶体的光学性质 1.正交偏光系统的构成及光学特点 2.正交偏光镜间矿片的消光现象及消光位 3.正交偏光镜间矿片的干涉现象及干涉色 4.补色法则和补色器 5.正交偏光间主要光学性质的观测和测定 3.干涉色及干涉色色谱表 1）. 干涉色及其成因 干涉色色谱表 2）.干涉色级序及各级序特征 干涉色色谱表 3）.干涉色色谱表 干涉色的序级，与经过矿物晶片到达上偏光的光程差、矿物的双折射率以及矿物薄片的厚度有关。 干涉色色谱表表示的就是光程差R、薄片厚度d、双折射率Δ之间的关系。 例如，石英的最大双折射率为0.009，若在薄片中看到的最高干涉色为一级黄白，由干涉色色谱表可以查出薄片的厚度为0.045； 若薄片中最高干涉色为一级灰白，查干涉色色谱表可知薄片厚度为0.03mm。 4.干涉色及干涉色色谱表 4）.异常干涉色 一般说来,同一矿物对不同波长单色光的双折射率大小是不相等的,即矿物出现双折射率射散.因此,不同波长单色光通过非均质体非垂直光轴切面后的光程差也不同,结果出现干涉色色谱表上没有的干涉色,称为异常干涉色. 例如:绿泥石的普鲁士蓝异常干涉色. 四.补色法则和补色器 补色器 几种常见的补色器： 矿片光率体椭圆半径方向和名称的测定 最高干涉色级序的测定 最高干涉色级序的测定 2.石英楔测定法 用石英楔测定干涉色级序示意图 最大双折射率值测定 消光类型及消光角的测定 1. 消光类型的含义: 指矿片处于消光位时,矿片的解理缝, 双晶缝,或晶体的轮廓(它们与结晶轴有一定的关系)等与目镜十字丝(代表上/下偏光的振动方向)的相互关系. 2. 消光类型的划分: (1). 平行消光: 矿片处于消光位时,其解理缝,双晶缝或晶棱等与目镜十字丝之一平行. (2). 对称消光: 矿片处于消光位时, 它的两组解理缝,两个晶面迹线或两组双晶缝夹角的角平分线与目镜十字丝平行. (3). 斜消光: 矿片处于消光位时, 其解理缝,双晶缝或晶棱等与目镜十字丝斜交. 消光类型 各种消光类型示意图 消光角及其测定方法 1.消光角的表示方法 2. 角闪石消光角的测定方法 1 选择合适的定向切面 ※ 与光轴面平行的(010)面的特征: 有一组解理 (代表c轴方向);多色性最明显;干涉色最高;锥光下具闪图. 2.将矿片置于视域中心, 旋转载物台至消光位. 3.测定光率体椭圆半径名称, 即确定Ng的方向. 4.测定解理缝和Ng的夹角,即c∧Ng.(见下图示). 单斜辉石或角闪石消光角的测定步骤示意图 延性符号及其测定 延性符号含义: 指一向延长的针柱状矿物的延长方向与其光率体椭圆长短半径的关系. 延性符号描述: 如果矿物的延长方向和长半径平行或两者交角小于450, 则称正延性; 如果矿物的延长方向和短半径平行或两者交角小于450, 则称负延性. 延性符号测定: 对于斜消光的矿物, 只要测出消光角的大小,即知其延性符号.对于平行消光的矿物, 延性符号的测定方法见下图. 晶体延性符号测定步骤示意图 双晶的观察 双晶:指同一晶体是由两个或多个单体连生在一起,由于单体之间光性方位不同,在正交偏光镜间呈现单体消光位不同的现象. (二).双晶的种类 1. 简单双晶: 仅由两个双晶单体组成.