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* * 晶体结构与晶体中的缺陷 熔体 内容 固体表面与界面 相平衡 扩散 固相反应 相变 烧结 玻璃体 Outline 第二章 晶体缺陷 总述—— 1、缺陷产生的原因——热震动 杂质 2、 缺陷定义——实际晶体与理想晶体相比有一定程度的偏离或不完美性, 把两种结构发生偏离的区域叫缺陷。 3、研究缺陷的意义——导电、半导体、发色(色心)、发光、扩散、烧结、固相反应………。(材料科学的基础) 4、 缺陷分类——点缺陷、线缺陷、面缺陷、体缺陷 (按几何形态分类) 第一节 缺陷的基本类型 一、类型 A 根据对理想晶体偏离的几何位置来分,有三类 空 位 填 隙 原 子 杂 质 原 子 正常结点位置没有被质点占据,称为空位。 质点进入间隙位置成为填隙原子。 杂质原子进入晶格(结晶过程中混入或加入,一般不大于1%,)。 进入 间隙位置—间隙杂质原子 正常结点—取代(置换)杂质原子。 固溶体 B 根据产生缺陷的原因分类 热 缺 陷 杂 质 缺 陷 非化学计量结构缺陷(电荷缺陷) 1、热缺陷:当晶体的温度高于绝对0K时,由于晶格内原子热运动,使一部分能量较大的原子离开平衡位置造成的缺陷。 (1) Frankel缺陷 特点 —— 空位和间隙成对产生 ;晶体密度不变。 例 : 纤锌矿结构ZnO晶体,Zn2+ 可以离开原位进入间隙, 此间隙为结构中的另一半“四孔”和“八孔”位置。 从能量角度分析: Frankel缺陷的产生 (2) Schottky缺陷 正常袼点的原子由于热运动跃迁到晶体表面,在晶体内正常格点留下空位。 Schottky缺陷形成的能量小Frankel 缺陷形成的能量因此对于大多数晶体来说,Schottky 缺陷是主要的。 特点—— 形成—— 从形成缺陷的能量来分析—— 热缺陷浓度表示 : 对于离子晶体,为保持电中性,正离子空位和负离子空位成对产生,晶体体积增大 Schottky缺陷的产生 2 杂质缺陷 概念——杂质原子进入晶体而产生的缺陷。原子进入晶体的数量一般小于0.1%。 种类——间隙杂质、 置换杂质 特点——杂质缺陷的浓度与温度无关,只决定于溶解度和掺杂量。 存在的原因——本身存在,有目的加入(改善晶体的某种性能) 3 非化学计量结构缺陷(电荷缺陷) 存在于非化学计量化合物中的结构缺陷,化合物化学组成与周围环境气氛有关;不同种类的离子或原子数之比不能用简单整数表示。如: ; 非化学计量缺陷 电荷缺陷 二、缺陷化学反应表示法 用一个主要符号表明缺陷的种类 用一个下标表示缺陷位置 用一个上标表示缺陷的有效电荷 如“ . ”表示有效正电荷; “ / ”表示有效负电荷; “×”表示有效零电荷。 用MX离子晶体为例( M2+ ;X2- ): (1)空位: VM 表示M原子占有的位置,在M原子移走后出现的空位; VX 表示X原子占有的位置,在X原子移走后出现的空位。 1. 常用缺陷表示方法: 把离子化合物看作完全由离子构成(这里不考虑化学键性质),则在 NaCl晶体中,如果取走一个Na+ 晶格中多了一个e, 因此VNa 必然和这个e/相联系,形成带电的空位—— 写作 同样,如果取出一个Cl- ,即相当于取走一个Cl原子加一个e,那么氯空位上就留下一个电子空穴(h. )即 (2) 填隙原子:用下标“i”表示 Mi 表示M原子进入间隙位置; Xi 表示X原子进入间隙位置。 (3)错放位置(错位原子): MX 表示M原子占据了应是X原子正常所处的平衡位置,不表示 占据了负离子位置上的正离子。 XM 类似。 (4)溶质原子(杂质原子): LM 表示溶质L占据了M的位置。如:CaNa SX 表示S溶质占据了X位置。 (5)自由电子及电子空穴: 有些情况下,价电子并不一定属于某个特定位置的原子,在光、电、热的作用下可以在晶体中运动,这些电子称自由电子(符号e/ )。同样也存在不局限于特定位置的电子空穴(符号h
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