Q_HXKZZ7-2019近红外探测器性能试验方法.pdf

Q/HXKZZ 广州华新科智造技术有限公司企业标准 Q/HXKZZ 7—2019 近红外探测器性能试验方法 2019-4-1 发布 2019-4-1 实施 广州华新科智造技术有限公司 发布 Q/HXKZZ 7—2019 目 录 前 言 III 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 3.1 近红外探测器 1 3.2 校具 1 4 环境要求 1 5 试样与仪器 1 5.1 标准样品 1 5.2 校具 1 5.3 试验仪器 2 6 试验项目与试验方法 2 6.1 外观试验 2 6.2 水密性试验 2 6.3 耐压试验 2 6.4 近红外测量性能试验 2 7 结果评价 3 7.1 外观试验 3 7.2 水密性试验 3 7.3 耐压试验 4 7.4 近红外测量性能试验 4 8 试验报告 4 附录A 5 图 1 校具的剖面图 2 图 2 近红外光纤探头、激光器、近红外光谱仪和计算机的连接示意图 3 图 3 近红外探测器与标准样品安装示意图 3 II Q/HXKZZ 7—2019 前 言 本标准根据GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。 本标准由广州华新科智造技术有限公司和华南理工大学聚合物新型成型装备国家工程研究中心提 出。 本标准起草单位：广州华新科智造技术有限公司和华南理工大学聚合物新型成型装备国家工程研究 中心。 本标准主要起草人：李俊、张旭、覃昌壬、叶静怡、晋刚、王蒙蒙、朱世超。 本标准于2019 年4 月1 日首次发布。 III Q/HXKZZ 7—2019 近红外探测器性能试验方法 1 范围 本标准规定了近红外探测器的试验条件、试验仪器、试验项目、试验方法及检验规则。 本标准适用于试验近红外探测器的基本性能。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本 文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 8322-2008 分子吸收光谱法 术语 3 术语和定义 GB/T 8322-2008界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 近红外探测器 自主开发的耐压近红外光纤探头保护装置。 3.2 校具 自主设计的光谱信号检测装置。 4 环境要求 ——温度：10 ℃～35 ℃； ——相对湿度：不大于80% （25 ℃）； ——供电电源：电压220±22 V，50 Hz±1 Hz； ——室内应避免易燃、易爆和强腐蚀性气体以及强烈的机械振动、电磁干扰和空气对流等。 5 试样与仪器 5.1 标准样品 标准样品选用直径27.1 mm、高8.5 mm的聚四氟乙烯样品。 5.2 校具 如图1所示，校具由探测器安装基座、标准样品固定块和底座组成。 1 Q/HXKZZ 7—2019 图 1 校具的剖面图 1—探测器安装基座；2—标准样品固定块；3—底座 5.3 试验仪器