第一章材料成分分析-1平均成分X射线荧光光谱、原子发射及吸收光谱、等离子体发射光谱.pptxVIP

课程名称：材料分析方法任课教师：魏大庆哈工大分析测试中心科学园B1栋210室电话 E-mail:daqingwei@hit.edu.cn; ;并不是对应于所有能级组合的谱线都能出现，而是必须遵守电子跃迁的选择定则进行跃迁，才能辐射出特征X射线。 ; 能量与波长关系服从光谱跃迁公式：;试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层(K，L或M层)电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。;按色散方式分为:;能量色散型XRF工作原理图;波长色散型XRF工作原理图;激发---利用X射线管做激发源;(1)X射线管(光源);分析重元素：钨靶 分析轻元素：铬靶 靶材的原子序数越大，X光管压越高，连续谱强度越大。;作用：利用金属滤波片的吸收特性减少靶物质的特征X射线、杂质线和背景对分析谱线的干扰，降低很强谱线的强度。;;;晶体色散作用； ?=2dsin? 平面晶体分光器 弯面晶体分光器;第一章 材料成分分析;分光晶体是获得待测元素特征X射线谱的核心部件，因此晶体的选择是十分重要的。 根据布拉格定律，sinθ=nλ/2d，所选晶体的2d(d为晶面间距)必须大于待分析元素的波长。 在高2θ角度的条件下，谱峰的宽度增大，强度随着下降。同时由于谱仪结构的限制，不允许探测器的2θ接近于180度。因此，一般2θ小于148度。;(3) 晶体分光器;准直器是由平行金属板材组成，两块金属片之间的距离有100、150、300、550、700和4000μm供选择。 在样品和晶体之间的称一级准直器，其作用是将样品发射出的X射线荧光通过准直器变为平行光束照射到晶体，该准直器又称为入射狭缝；;二级准直器在分光晶体之后，又称为出射狭缝，其作用是将晶体分光后的光束变为平行光束进入探测器。 二级准直器是固定的，不能选择。 X射线荧光经入射和出射准直器后，可确保入射光束以θ角进入晶体，出射光束以2θ角射入探测器。一级准直器对谱仪分辨率起着重要作用;它的作用是将X射线荧光光量子转变为一定数量的电脉冲，表征X射线荧光的能量和强度。;（5）检测器;（5）检测器;（5）检测器;（6）记录显示;;用单晶体或多层薄膜分光，使多色光谱色散成单色谱线；使所选波长进入探测系统中经光电转换和二次分光，获得高分辨率； 在4 Z 92 (Be-U)范围内所有元素的光谱均具有很高的分辨率； 定性与定量分析的精度和灵敏度高。 高能端(Ag/Sn/Sb K系光谱)，分辨率不如能量色散 ; 元素的荧光X射线的波长( ? )随元素的原子序数( Z )增加，有规律地向短波方向移动。; X射线荧光分析中利用晶体对X射线分光，分光晶体起光栅的作用。晶体分光X射线衍射的条件就是布拉格方程：;波长与元素序数间的关系；特征谱线； 查表：谱线—2?表； 例：以LiF(200)作为分光晶体，在2?=44. 59处有一强峰， 谱线—2?表显示为：Ir(K?)，故试样中含Ir；;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析; X射线荧光分析法基本上就是一种测定出样品产生的X射线荧光强度，然后跟标准样品的X荧光强度对比的比较方法。;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析;第一章 材料成分分析