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第七章 抗干扰技术 7.1噪声干扰的形成 7.2硬件抗干扰技术 7.3软件抗干扰技术 按噪声产生原因分类： 1）放电噪声 2）高频振荡噪声 3）浪涌噪声 一、噪声源 1、内部噪声源 2、外部噪声源 1）天体和天电干扰 2）放电干扰 3）射频干扰 4）工频干扰 二、噪声的耦合方式 1、静电耦合（电容耦合） 2、电磁耦合（电感性耦合） 3、漏电耦合（电阻耦合） 4、共阻抗耦合 1、静电耦合（电容耦合） 由于两个电路之间存在寄生电容，产生静电效应而引起的干扰 2、电磁耦合（电感性耦合） 电磁耦合是由于两个电路间存在互感 3、漏电耦合（电阻耦合） 是测试时由于绝缘不良，流经绝缘电阻R的漏电流使电测装置引起的干扰 4、共阻抗耦合 1）电源内阻抗的耦合干扰 2）公共地线耦合干扰 由于地线本身就有一定的阻抗，当其中有电流通过时，在地线上必产生电压，该电压就成为对有关电路的干扰电压 3）输出阻抗耦合干扰 当信号输出电路同时向几路负载供电时，任何一路负载电压的变化都会通过线路公共阻抗耦合而影响其他路的输出，产生干扰 三、噪声的干扰模式 1、差模噪声 2、共模噪声 共模噪声是相对于公共的电位基准点，在系统的接收电路的两个输入端上同时出现的噪声 7.2 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术 硬件抗干扰技术  差模噪声可以简单的认为是与被测信号叠加在一起的噪声，它可能是信号源产生的，也可能是引线感应耦合来的。差模噪声与被测信号叠加在一起，所以对信号就会形成干扰，即差模干扰。 抑制差模干扰一方面采取措施切断噪声耦合途径，如将引线屏蔽；另一方面利用干扰与信号的差别来把干扰消除掉或减小到最小。常用的方法有以下几种。 1.频率滤波法 该方法是利用差模干扰与有用信号在 频率上的差异，采用高（低）通滤波器滤除比有用信号频率低（高）的差模干扰。 2.积分法 双积分A/D转换器由积分器、过零比较器（C）、时钟脉冲控制门（G）和定时器、计数器（FF0～FFn）等几部分组成。 工作原理： （1）准备阶段 计数器清零，积分电容放电， Uo=0V。 （2）第一次积分阶段 t=0时，开关S1与A端接输入电压Ui加到积分器的输入端。积分器从0开始分： 由于Uo0V，过零比较器输出Uc=1，控制门G开。计数器从0开始数。经过2n个时钟脉冲后，触发器FF0～FFn－1都翻转到0态，而Qn=1，开关S1由A点转到B点，第一次积分结束。第一次积分时间为： t=T1=2nTC 第一次积分结束时，积分器的输出电压Up为： （3）第二次积分阶段 当t=t1时，S1转接到B点，基准电压－UREF加到积分器的输入端；积分器开始向相反进行第二次积分。 当t=t2时，积分器输出电压Uo0V，比较器输出Uc=0，控制门G被关闭，计数停止。 在此阶段结束时UO的表达式可写为： 设T2=t2－t1，于是有： 设在此期间计数器所累计的时钟脉冲个数为λ