Q_320501 SNT 040-2019纳米晶片企业标准.pdf

苏州纳通生物纳米技术有限公司技术文件 NT-SIP-040 纳米晶片检验规范-验收规范 控制性质：受控 发布： 文本编号：NT-SIP-040 实施： 苏州纳通生物纳米技术有限公司 发布 苏州纳通生物纳米技术有限公司 文件编号：NT-SIP-040 版 次： A/0 技术文件 修改状态： 纳米晶片检验规范 页 序：共 1 页 第 1 页 验收内容 检测项 检验 序号 技术要求 检验器具 备注 目 方法 产品表面无明显脏污，针头 1 外观 目视 \ 目视无外观不良 晶片搭载的平台无外露晶 2 尺寸 目视 卡尺 片 3 二维码 出货前扫码确认信息无误 目视 \ 单个产品密封完整 4 包装 目视 \ 整箱完好，对应标识清晰 5 数量 数量正确 直接点数 \ 验收规则： 1) 以批为一检测单位抽取一定数量进行检测，依据SIP-002：《抽 样计划指导书》。 2) 光源在 200LUX ±100，产品检验距离 30-35cm 3) S：面积 L ：长度 W ：宽带 D ：距离 N ：个数 4) 技术要求必须符合本验收规范的要求，有一项不符合可退货、 补差更换或报废处理。 5) 其他晶片技术要求见我司内控文件，无特殊要求不体现在外部 文件中，以我司内控数据作最终判定结果。 修改 记录 编 制