石油天然气钢质管道无损检测射线检测人员要求.doc

石油天然气钢质管道无损检测射线检测人员要求 射线检测人员除应符合4.4条的有关规定外，还应符合以下要求： 7.1 射线检测人员的健康状况应符合GB8703的有关规定，上岗前应按GB11924的规定进行辐射安全知识的培训。 7.2 射线检测工作的人员，视力必须满足下列要求： a) 校正视力不得低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB11533的规定。 b) 从事射线评片人员应能辨别距离400㎜远的一组高为0.5㎜、间距为0.5㎜的印刷字母。并一年检查一次。 这里规定了射线检测人员除应符合4.4条的有关规定外，还必须具有良好的身体素质。上岗前应进行辐射安全知识培训，取得放射工作人员证，才允许上岗工作。 8 射线检测设备、器材和材料 8.1 射线源和能量的选择 8.1.1 X射线照相应尽量选用较低的管电压。透照不同厚度焊缝时，允许使用的最高管电压应控制在图3的范围内。对透照截面厚度变化大的工件时，允许采用超过图3规定的X射线管电压，但最高不得超过50KV。 图3 透照厚度和允许使用的最高管电压 射线源和能量的选择应按透照厚度来确定，图3中的斜线之下的区域为允许使用的能量范围，通常应尽可能选用能量较低的射线，以提高工件的对比度。但对焊缝余高较高或厚度差较大（如小径管或焊缝两侧母材厚度差较大），为使有效透照区的焊缝和热影响区的黑度均在标准规定的范围内，在保证灵敏度要求的情况下，允许采用超过图3规定的X射线管电压，但最高不得超过50KV，以增大宽容度。图3透照厚度和允许使用的最高管电压来源于GB3323-1987标准，最高不得超出50Kv主要参照欧洲标准和GB/T12605-1990标准，与JB4730标准规定相当。 8.1.2 γ射线源的最小透照厚度见表1。 表1 γ射线源的最小透照厚度 γ射线源 最小透照厚度TA（mm） 名 称 平均能量（Mev） Se75 0.206 ≥5 Ir192 0.35 ≥10 油气管道检测过去一般选择用Ir192γ射线源，近年来中薄壁管道广泛采用了Se75射线源。由于γ射线的能量偏高，透照薄壁焊缝的工件对比度偏低。经验证，在保证灵敏度和底片质量的前提下，确定Ir192的最小透照厚度≥10㎜，Se75的最小透照厚度≥5㎜，这与JB4730标准规定基本相当。 由于Se75γ射线源的资料较少，人们对它的了解还有待加深。为加深认识，在此对Se75γ射线源的有关知识作以介绍： （1）Se75γ射线源有那些性质？ Se75γ射线源是一种人工放射性同位素，原子量数为75，其核中含质子数为34，中子数为41。Se75γ射线源由中子俘获反应所得，即将封装在适当容器中的元素或其化合物，在中子反应堆中照射，取出后直接应用或经过化学处理后使用。Se75γ射线源半衰期120.4天，衰变方式为轨道电子俘获，比活度1.45×104Ci/g，放射Kr常数为2.04R·cm2/h·mCi。 Se75γ射线源主要能谱线有9根，能量分别为0.066、0.097、0.121、0.136、0.199、0.265、0.280、0.304、0.401（MeV）。其相对强度可只考虑强度最高0.265（100%）、0.136（93.1%）、0.12（27.4%）、0.28（42.9%）的四根线。按幅度能量及相对强度推算，其平均能量为0.206MeV。 与Ir192γ射线源相比，该γ射线源更适用于薄板焊缝检测。近年来国内在管道检测中应用日益增多，欧洲国家和国内电力系统已将其列入标准（如BS/NE1435-1997和DL/T821-2002）。 （2）用Se75γ射线源进行检测，曝光时间如何确定？ γ射线源的曝光时间可通过曝光量公式计算确定，即：t=K×F2×2T/d1/2/A 公式中的曝光常数K、半价层d1/2需通过试验测定。 对天津Ⅲ型胶片，在底片黑度为2.7～2.9时，试验测定的曝光常数K=0.04；对于天津Ⅴ型胶片，试验测定的曝光常数K=0.12。 半价层试验得出了Se75的半阶层随透照厚度的增加而有所增加的关系曲线，这是由于Se75源具有多条线谱，穿透物质过程中线质发生硬化的结果。对于曝光时间计算的半价层取值：透照厚度小于等于10㎜时，半价层取7㎜；透照厚度大于10㎜时，半价层取10㎜；能很好地满足精度要求。 由此得到用Se75射线源进行透照的曝光时间的计算公式： ① 天津Ⅲ型胶片，底片黑度为2.7～2.9, t=0.04F2×2T/d1/2/A； ② 天津Ⅴ型胶片，底片黑度为2.7～2.9, t=0.12F2×2T/d1/2/A； d1/2取值：TA≤10㎜时，d1/2=7㎜；TA10㎜时，d1/2=10㎜。 式中：A——源活度，Ci； d1/2——半价层，㎜； t——曝光时间，min； F——焦距，㎝； TA——透照厚度，㎜。