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- 2019-11-14 发布于湖北
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ClpC 电《子电路与贴装2004年第1期 蕊
国
艺上的应用
源 明
在印制板制造工艺中,最典型的是利用 自动光 决对精细导线 (S/L=30/50微米)的检查。对于有阻
学检测系统在印制板上的应用 ,其中多数应用在多 抗要求的导线宽度公差控制不会 比±5一l0微米变
层板的内外层或高密度双面板表面质量的检查。但 化更大是可能的。而AOI的灵敏度不会记录这样
是在其它方面的应用也比较多,特别是对高密度互 的线宽变化 。检查光具 (即底片)通常应该在清洁
连结构 (HDI)微通孔和表面的检查。而且还应用在 的、黄光室内进行 ,不建议到AOI作业 区进行检
IC封装和装配中的印制板的检查。AOI很有效地 查 ,应此区域清洁度不够。因此,实际上 AOI机不
应用诸多方面,为提高印制板的表面质量 ,发挥 了 是检查内层或外层的光具膜的机器。
重要的作用。 AOI实际上也可以检验玻璃底版的图像质量,
一 即玻璃上镀铬膜。这些底版通常制作和检验是通过
. 底片的检查
转包公司再送交PWB制造厂的。典型的要求就是
自动光学系统的设计是根据底片检查工艺特
底版上的缺陷的尺寸在5微米或更大些。许多使用
性 ,采用透射的模式即将需要检查的底片放置在玻
玻璃底版的用户也使用检查玻璃的工具进行检查,
璃桌台上,而不采用抽真空台面,而是通过玻璃桌
以延长使用的寿命。但使用玻璃底版也很贵。
面的下的光束透过玻璃进行对底片的扫描来检查
玻璃底版至少要曝光百次以上,最典型的次数
底片相应位置上的缺陷。使用这种方法对底片进行
为200—500次,就必须使用 AOI对玻璃底版图像
表面质量的检查 ,为更加清晰的将印制板表面缺陷
进行质量检查 ,还可以通过曝光试验 ,如底版的图
呈现出来,对该系统的放大装置作了很大的改进 ,
像好就可以接着使用,或者进行修整。
达到了既是印制板表面的很小的缺陷都能检查出
来。当在印制板生产过程中使用该系统时,就能将 二.覆盖有光敏抗蚀剂的板在进行显影
印制板面的5m和 5m以下的缺陷检查出来 ,并 前的潜像质量的检查
且能够适当的区别错误的真假 ,就是采用高级的识
这一步最基本的想法就是在湿处理前 ,对板的
别系统大大的减少故障缺陷的发生。
图像与孔对准度进行检查,及早发现如有质量缺陷
在反射模式将白色的纸放置在光具 (底片)之
就很容易得到解决。但是,检查的这种类型膜层的
下,介于光具透明和不透明范围之间,以提高其对 潜像不是广泛地,这是因为板膜层的颜色均匀而且
比度。经过交替的变换达到或接近所使用的标准的
差别很大 ,特别在对已曝光和非曝光范围的膜层 ,
AOI系统。这种方法不是通用的的,更多的倾向是
即使用特殊过
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