CMOS模拟集成电路设计_ch11带隙基准up.pptVIP

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电流镜 HIT Microelectronics 王永生 王永生 Harbin Institute of Technology Microelectronics Center 电流镜 CMOS模拟集成电路设计 带隙基准 带隙基准 * * 提纲 1、概述 2、与电源无关的偏置 3、与温度无关的基准 4、PTAT电流的产生 5、恒定Gm偏置 概述 * * 1、概述 基准 目的:建立一个与电源和工艺无关、具有确定温度特性的直流电压或电流。 与温度关系: 与绝对温度成正比(PTAT) 常数Gm特性 与温度无关 与电源无关的偏置 * * 2、与电源无关的偏置 电流镜 与电源有关 电阻?IREF? 与电源无关的电流镜 互相复制——“自举” 问题:电流可以是任意的! 增加一个约束:RS 忽略沟道长度调制效应, 与电源无关的偏置 * * 忽略体效应, 则 VGS1 VGS2 消除体效应的方法: 在N阱工艺中,在P型管(PMOS)的上方加入电阻,而PMOS的源和衬连接在一起。 如果沟道长度调制效应可以忽略,则上述电路可以表现出很小的电源依赖性。因此,所有晶体管应采用长沟器件。 与电源无关的偏置 * * “简并”偏置点 电路可以稳定在两种不同的工作状态的一种。 Iout?0 电路允许Iout=0 增加启动电路,使电路在上电时摆脱简并偏置点。 启动电路的例子: 条件: 上电时提供通路:VTH1+VTH5+|VTH3|VDD 启动后保证M5关断:VGS1+VTH5+|VGS3|VDD 与温度无关的基准 * * 3、与温度无关的基准 3.1 负温度系数电压 对于一个双极器件, 而 计算VBE的温度系数(假设IC不变), 则, 例, VBE?750mV,T=300K时, ?VBE/ ?T ?-1.5mV/K m?-3/2, VT=kT/q, 硅带隙能量Eg ?1.12eV 与温度无关的基准 * * 3.2 正温度系数电压 如果两个双极晶体管工作在不相等的电流密度下,那么它们的基极-发射极电压差值就与温度成正比。 则 例1:如果两个同样的晶体管偏置的集电极电流分别为nI0和I0,忽略基极电流,则 例2:如果如右图的两个晶体管偏置的集电极电流分别为nI0和I0,忽略基极电流,则 则,温度系数为(k/q)ln(mn) 与温度无关的基准 * * 3.3 带隙基准 室温下, ?1? ?2lnn? 令?1=1,则 ?2lnn=17.2,则得到零温度系数基准 ? VO2=VBE2+VTlnn 见右图,强制VO1=VO2, 与温度无关的基准 * * 3.3 带隙基准(续) 采用运算放大器,使X点和Y点近似相等。 讨论: 集电极电流变化 IC2 由于 有 (没有考虑IC变化时) 得到 IC2 与温度无关的基准 * * 3.3 带隙基准(续) 讨论(续) 与CMOS工艺兼容 在常规(标准)N阱CMOS工艺中,可以形成PNP型晶体管。 与温度无关的基准 * * 3.3 带隙基准(续) 讨论(续) 运放的失调 不接地, 工艺不兼容 与温度无关的基准 * * 3.3 带隙基准(续) 讨论(续) 反馈 负反馈系数 正反馈系数 正反馈应小于负反馈 与温度无关的基准 * * 3.3 带隙基准(续) 讨论(续) 何谓“带隙”? =0 得到 电源高频抑制性能与启动问题 曲率校正 PTAT电流的产生 * * 4、PTAT电流的产生 PTAP电流 在带隙基准电路中,双极型管的偏置电流是与绝对温度成正比(PTAT)电流 简化的PTAP电路: 见右图,要使ID1=ID2,必须VX=VY,因此 此电路可以改为产生带隙基准电压的电路, 电流镜 * * 5、恒定Gm偏置 与电源无关的偏置电路是确定跨导的简单电路 =(CSfCK)-1 因此, 采用开关电容电路代替电阻可以达到更高的精度。 带隙基准 * * 小结 与电源无关的偏置 自举——互相复制 与温度无关的基准 负温度系数电路与正温度系数电路相加补偿 工艺兼容性;运放失调;反馈;稳定性;启动 PTAT电流的产生 恒定Gm偏置 * * * * Vref=1.25. How does we use the BGR? * * ? Feedback is employed in the reference generator. Loop stability must be ensured. ? The stability can be tested by observing the output step response. ? Capacitive loading at the output of reference generator has to be either ext

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