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第七章 集中参数阻抗的测量（电子元件参数测量） §7.1概述 一、常用方法 电桥法 谐振法 直接法 数字式测量法 二.阻抗特性及其表示 直流 虚部均与 有关 实际元件R,C,L单独制造使用，一般均含有寄 生参数，测量时应注意寄生参数影响 §7.２电桥法测阻抗 §7.3谐振法测阻抗 二.Ｑ值的测量 §7.4　Ｑ表 2 .电容器参数的测量 测 C , ★测C: 通常用替代法测,以消除C0的影响,需两次测量 (CxCsmax) ①选一合适L接入1,3端,调f 使谐振, 记Cs=C1, Q=Q1 此时, ②将CX接入2,3端,调CS使重新谐振 记下CS=C2, Q=Q2 此时, ③计算CX , 解上两式得: ④计算 QC的推导: ⅰ.并联式两次测量(右图) ⑴未接入Z有: ⑵接入Z: 得: ⅱ.串联式两次测量如右图: ⑴未接入Z:记为Q1 ⑵接入Z:记为Q2 则: §7.5 阻抗测量的数字化