chroma测试系统培训资料.pptxVIP

Chroma 6000 测试系统培训资料制作：周正 系统结构介绍 测试程序编写一，系统结构介绍系统硬件介绍测试参数介绍LOAD 1LOAD 2LOAD 3LOAD 4LOAD X传统的测试系统DC OUTPUTAC INPUTSwitchingPowerSupplyRelay MatrixMeasurement Circuit传统的测试系统测试速度慢无法全面的模拟动态测试功能继电器组切换容易产生不知名的干扰信号。干扰正常的輸出信号的测量。因继电器组的延时，会造成时序量测出现误差Chroma 6000 SMPS ATEDC SourceAC Source负载1 负载2 负载3 负载4 负载N EMU 601系统架构OVPSOURCESPS N: Max=12系统特性测量准确度 测试速度测试可靠性 及稳定性可扩充性 其它输出电压量测采用了14-bit A/D转换器,输出电压噪声的量测采用了8段低通滤波器，进行差模放大方式来量测的。时序量测采用了24-bit 计数器.同步平行测试。比传统测试方法快约3倍由MOSFET构成的电子负载，可以更真实更快速更准确的模拟被测物的实际工作状态(如负载电流大小、电流变化率、动态负载状态等各种状态模拟 系统可测试1~12组输出的多种AC/DC、DC\DC 电源产品； 可以通过系统中的6组内建继电器和16 –bit的逻辑控制信号及10组电压量测点与其它仪