背散射电子衍射.pptVIP

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2019-12-23 发布于山西
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背散射电子衍射.ppt

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背散射电子衍射 Electron Back-Scatter(ed) Diffraction（EBSD）朱强背散射电子衍射技术基于扫描电镜（SEM）中电子束在倾斜样品表面激发出并形成的衍射菊池带的分析从而确定晶体结构、取向及相关信息的方法。 EBSD改变了以往织构分析的方法（X-ray衍射仪法）,并形成了全新的科学领域,称为“显微织构”———将显微组织和晶体学分析相结合背散射电子衍射仪结构图样品（倾斜 70?）; (CCD) 录像相机; SEM控制部件、接口; 控制 EBSD 实验的计算机及软件. 背散射电子衍射原理背散射电子衍射花样的采集与标定菊池带的自动识别原理手工：繁重自动识别问题：有效的定出程度较弱的菊池带→Hough变换（霍夫变换） Hough变换：原始菊池花样上的一个点（XiYi）按变成Hough空间的一条正选弦曲线，原始图中同一条直线上的不同点在Hough空间相交于同一点，原始图上的一条直线对应Hough空间一个点，菊池带的强度大幅度提高。一条菊池带变换后为一对最亮和最暗的点，间距为菊池带的宽度p。计算机按前5条最强的菊池带位置，夹角定出晶面指数和晶带轴指数并计算出取向。背散射电子衍射的应用织构分析；晶粒间取向差分析；物相鉴定及含量测定；晶粒尺寸测定；应变分析。 * *