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AEC Q102认证测试全项目介绍
AECQ102是基于失效机理的离散光电半导体在汽车应用中的压力测试资格。
序号
应力方式
缩写
注释
样品尺寸/批号
数目
接受标准
试验方法(现行修订)
补充技术条件
1
前后电测和光度测试
Test
N,G
根据适当的零件规格的要求测试的所有合格部件。
0
用户规格或供应商的标准规格
试验是按照适用的应力基准中的规定进行的。另见第2.3.7节。
2
预处理
PC
G, S
至少在测试#6、#7和#8之前的SMD资格部件
0
JEDEC JESD22-A113
至少在测试#6,#7和#8之前在表面安装部件(SMDS)上执行。在适用的情况下,预处理水平和峰值回流温度必须报告时,预处理和/或MSL是 完成了。任何更换零件都必须报告。PC前后测试
3
外部视觉
EV
N, G
除DPA和PD外,所有提交测试的合格部件
0
JEDEC
JESD22-B101
检查零件的施工、标记和工艺。
4
参数验证
PV
N
25
3注:A
0
个体AEC用户规范
在零件温度范围内根据用户规格测试所有参数,以确保规格符合要求。
5a
高温操作寿命HTOL
HTOL1
D, G, X,
Y
26
3注B
0
JEDEC
JESD22-A108
只适用于LED和激光组件。持续时间1000小时在最大指定的TSolder。根据减额曲线选择相应的驱动电流,以达到零件规范中定义的最大TJ。T 如果没有减缩,EST5a相当于5b。在特殊应用程序中使用;可能需要更长的测试持续时间来确保应用程序寿命的可靠性。详情见附录7a“R” 可忽略性验证LED“。测试前后HTOL1。
5b
高温操作寿命HTOL
HTOL2
D, G, X,
Y
26
3注B
0
JEDEC JESD22-A108
仅适用于LED和激光元件在最大指定驱动电流下的持续时间1000小时。根据减额曲线选择相应的TSolder,以实现部件规范中定义的最大TJ。Te 如果没有减缩,st5b相当于5a。在特殊应用程序中使用;可能需要更长的测试持续时间来确保应用程序寿命的可靠性。详情见附录7a“Rel” LED的可用性验证“。测试前后HTOL2。
5c
高温反向偏置
HTRB
D, G, Z
26
3注B
0
JEDEC
JESD22-A108
只适用于光电二极管和光电晶体管。持续时间1000h在最大指定的TSolder下工作连续反向偏置光电二极管:VR=部分指定的最大额定反向电压 阳离子:光电晶体管:Vce=零件规范中定义的最大额定集电极发射极电压。不会有光线照射。在HT RB前后进行测试。
6a
潮湿高温作业寿命
WHTOL1
D, G, X,
Y
26
3注B
0
JEDEC JESD22-A101
只适用于LED和激光组件。在WHTOL1之前的PC。持续时间1000h在TSolder=85°C/85%RH与驱动电流根据减额曲线,以达到最大TJ定义的零件规格。 运行与功率循环30分钟/30分钟关闭。试验前后WHTOL1。在WHTOL1之后的DPA。
6b
潮湿高温作业寿命
WHTOL2
D, G, X,
Y
26
3注B
0
JEDEC
JESD22-A101
只适用于WHTOL2前1000h的LED和激光元件PC,在TSolder=85°C/85%RH下,根据零件规格,最小驱动电流。如果没有最小额定驱动电流 如果,驱动电流应选择不超过3K的连接。试验前后WHTOL2。在WHTOL2之后的DPA。
6c
高湿度高温反向偏差
H3TRB
D, G, Z
26
3注B
0
JEDEC JESD22-A101
只适用于光电二极管和光电晶体管。在H3T RB之前的PC。持续时间1000h在Tsolder=85°C,85%RH下工作,继续反向偏置:光电二极管:Vr=0.8x最大额定反向电压de 零件规格罚款:光电晶体管:Vce=0.8x最大额定集电极发射极电压在零件规格中定义:最大指定功耗根据减额曲线。否 光照射。在H3TRB之前和之后进行测试。在H3TRB之后的DPA。
7
温度周期变化
TC
D, G
26
3注B
0
JEDEC
JESD22-A104
在TC之前的PC。持续时间1000个周期。最小浸泡和停留时间15分钟。零件规格中规定的最低温度。选择TC条件超过或等于操作温度ac 根据适当的零件规格:TC条件1:最大TSolder=85°C TC条件2:最大TSolder=100°C TC条件3:最大TSolder=110°C TC条件4:最大TSolder=125°C T 测试报告中应提及C条件和转移时间..建议在TC后对该部件进行去封装,并在适用的情况下执行WBP。报告数据。供应商必须提供expl 在WBP不能执行的情况下。测试前后
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