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Irsolution简易操作手册
第一章 开机及启动软件
1、打开仪器前部面板上的电源开关;
2、打开计算机,至WIN2000界面出现;
3、双击桌面IRsolution快捷键,出现右图
输入设定的密码,然后点击OK。
第二章 选择仪器及初始化
选择菜单条上的Environment(环境)
Instrument Preferences(仪器参数选择)
Instruments(仪器),选择仪器
“FTIR8000series”。
2、选择菜单条上的Measurement(测量)Initialize
(初始化),初始化仪器至两只绿灯亮起,即可
进行测量。
第三章 光谱测定
3-1测定参数的设定
点击功能条中Measure 键
在Data页中,设置
Measuring Mode,选择% Transmittance(透过率);
Apodization(变迹函数)选择Happ-Genzel(哈-根函数);
No. of Scans(扫描次数),设置40;
Resolution(分辨率),设置4 cm-1;
Range(波数范围),设置4600-400cm-1;
2、在Instrument页中,如下图设置:
Beam(光束),选择Internal(内部);
Detector(检测器),选择standard(标准);
Mirror Speed(动镜速度),选择2.8 mm/sec;
3、在More页中,如下图设置:
4、在Files页中,输入文件名,保存为Parameter files(参数文件.ftir)。
5、在Data file框中,写入待测谱图的文件名,选择合适的路径,在Comment框中输入文本加以
说明。如下图:
3-2光谱测定
1、点击此窗口的键,进行背景扫描,如下图:
2、插入样品,点击键, 即可进行样品扫描,如下图:
3、自动保存或换名保存为smf文件(*.smf)
3-3显示
1、波数范围以及纵轴范围的变更
变更图谱范围十分简单,只需点击图象上X轴
Y轴,对话框中输入适当的数字即可。
2、放大谱图
按下鼠标左键拖曳产生一个方框,到合适的大小后放开左键,放大的谱图范围就定义好了。用左键拖曳方框到需要放大的部位,松开左键,方框内的部分就被放大成整张谱图大小。
范围列表
选择Graph(谱图)Range(范围)Range List(范围列表),对话框中输入X轴、Y轴范围,点击键,添加到表中。也可点击将其保存为范围文件(*.rng)。
4、显示全谱
在已放大的谱图的任意位置击鼠标右键,选择Full view谱图即恢复原状。
5、显示或隐藏谱图
右键点击文件树中文件名,对话框中点击,选择是否显示。用于隐藏谱图, 用于隐藏所有谱图。
6、打开或关闭谱图
打开谱图:选择主菜单FileOpen,列表中选择目录并双击,选择文件类型,出现该目录下的所有文件,双击所要打开的文件;或通过工具条中的键打开。
关闭谱图:选择主菜单FileClose,关闭激活的谱图,选择主菜单FileClose All,关闭所有打开的谱图。
7、透过谱(%T)-吸收谱(Abs)的转换
选择Graph(谱图)Y-Axis Mode (Y轴模式),选择Tra(透过率)或Abs(吸光度);或通过选择工具条中的键。
8、显示叠图
选择Window(窗口)Join Visible(重叠显示),将所有谱图显示于一个窗口中;选择WindowSplit(拆分),将重叠图拆开分别显示。重叠显示有以下几种风格:例如图
Overlay重叠图 Stack Graph堆叠图 Stack Spectra堆叠光谱
以及Tile水平堆叠图、Vertical垂直堆叠图、Horizontal Splitted水平分离、Vertical Splitted垂直分离等格式。
3-4数据处理
1、峰值检测
选择Manipulation 1 (操作)Peaktable(峰表),设置参数如图:
Noise(噪音)、Threshold(峰阈值)、Min Area(最小峰面积);
点击,各峰波数标在峰的旁边,选取峰数的多少,可通过改变
各参数值,如果对计算结果满意,点击OK。峰表显示于View页。点击
鼠标右键,通过选择,设置是否显示峰表。
2、基线校正:选择Manipulation 1 (操作1)Baseline(基线校正)Zero(零基线),基线校正操作中可选择0、3点或多点,如图:
0点,基线调整到最大透过率为100%,(最小Abs=0);
3点,选择谱图中3处波数,调整到预定透过率;
多点,选择谱图中多处波数,调整到最大透过率为100%;点击Add键,
利用光
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