ThermoFisherScientific-表面分析技术基础(3).PDF

表面分析技术基础 (3) 盛世善 sssheng@ 中国科学院大连化学物理研究所 催化基础国家重点实验室 2014.11 北京 Thermo-Fisher 1，XPS用于含碳材料、 有机与聚合物分析 2，表面分析中的原位技 术（准） 3，真空技术基础 （1） XPS用于含碳材 料、有机与聚合 物的分析 有机化合物与聚合物主要由C， O，N，S和其它一些金属元素 组成的各种官能团构成，因 此在作有机化合物和聚合物 XPS分析时就要能够对这些官 能团进行定性和定量的分析 和鉴别。 C1s结合能 对C元素来讲，与自身成键(C−C)或与H 成键 (C−H)时C 1s电子的结合能约为 285 eV (常作为荷电校正的参考)。当 用O原子来置换掉H原子后，对每一C−O 键均可引起C 1s电子有约1.5±0.2 eV 的化学位移。C−