GB/T 24468-2009半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范.pdf

犐犆犛１７．０４０．３０ 犔８５ 中华人 民共和 国国家 标准 ／ — 犌犅犜２４４６８ ２００９ 半导体设备可靠性、可用性和维修性 （ ）的定义和测量规范 犚犃犕 犛犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀犳狅狉犱犲犳犻狀犻狋犻狅狀犪狀犱犿犲犪狊狌狉犲犿犲狀狋狅犳狊犲犿犻犮狅狀犱狌犮狋狅狉犲狌犻犿犲狀狋 狆 狇 狆 ， （ ） 狉犲犾犻犪犫犻犾犻狋 犪狏犪犻犾犪犫犻犾犻狋犪狀犱犿犪犻狀狋犪犻狀犪犫犻犾犻狋 犚犃犕 狔 狔 狔 ２００９１０１５发布 ２００９１２０１实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 ／ — 犌犅犜２４４６８ ２００９ 目 次 　　 前言 Ⅲ １ 目的 １ 　 ２ 范围 １ 　 ３ 规范性引用文件 １ 　 ４ 术语和定义 １ 　 ５ 设备的状态 ４ 　 ６ ＲＡＭ测量 ８ 　 ７ 不确定度测量 １１ 　 ８ 可靠性增长或退化的测量 １３ 　 ９ 集群设备 ＲＡＭ测量 １３ 　 附录 （规范性附录） 置信限系数 Ａ １４ 　 附录 （规范性附录） 集群设备 的测量 Ｂ