GSM可靠性试验计划.pdfVIP

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测试项 目 测试人员 开始时间 完成时间 备注 射频测试(常温) 8月19 日 8月19 日 高温储存 8月20日 8月21日 +65 高温运行 8月21日 8月21日 +55 测试温度 低温储存 8月21日 8月22日 -30 试验过程 低温运行 8月22日 8月22日 -10 温度冲击 8月22日 8月23日 循环12次 跌落测试 8月23日 8月23日 1.2m开机/0.8m不开机 检查 1H 1H +25 ,65%RH 高 测试温度 -30 手机不开机,置于高低温试 温1小时后,在1小时内降温 温1小时后至常温,4小时后 试验过程 5 外观 手机表面 (主要是LCD)无污 功能 达到产品技术规范规定功能 检查 射频指标 满足有关标准要求 +25 ,65%RH +25 ,65%RH -30 1H 1H 24H 1H 1H 低温贮存图 测试温度 -10 运行时间 2小时 手机供电 手机 (运行状态)置于高低温试验箱内,调节箱内温度为25 湿度65%保温1小时后, 在1小时内降温至-30℃,湿度关闭,保温2小时后立即进行外观、电性能测试 (手机由 外接稳压电源供

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