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测试项 目 测试人员 开始时间 完成时间 备注
射频测试(常温) 8月19 日 8月19 日
高温储存 8月20日 8月21日 +65
高温运行 8月21日 8月21日 +55 测试温度
低温储存 8月21日 8月22日 -30 试验过程
低温运行 8月22日 8月22日 -10
温度冲击 8月22日 8月23日 循环12次
跌落测试 8月23日 8月23日 1.2m开机/0.8m不开机 检查
1H 1H
+25 ,65%RH 高
测试温度 -30
手机不开机,置于高低温试
温1小时后,在1小时内降温
温1小时后至常温,4小时后
试验过程 5
外观 手机表面 (主要是LCD)无污
功能 达到产品技术规范规定功能
检查 射频指标 满足有关标准要求
+25 ,65%RH +25 ,65%RH
-30
1H 1H 24H 1H 1H
低温贮存图
测试温度 -10 运行时间 2小时 手机供电
手机 (运行状态)置于高低温试验箱内,调节箱内温度为25 湿度65%保温1小时后,
在1小时内降温至-30℃,湿度关闭,保温2小时后立即进行外观、电性能测试 (手机由
外接稳压电源供
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