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- 约 55页
- 2020-06-10 发布于浙江
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第九章:薄膜物理淀积技术;Metal Layers in a Chip;Multilevel Metallization on a ULSI Wafer;Copper Metallization;9.1.薄膜沉积的特点:pages 296
微电子技术中的薄膜种类繁多,一般都不能(也不需要)形成与衬底晶格匹配的晶体。形成非晶或多晶薄膜即可(但要求其界面的应力足够小)。其生长的过程大致为:
晶核形成、晶粒成长、晶粒聚结、逢道填补、成积膜成长。;;;晶粒自由能对成核的影响: 临界半径—表面能的约束
界面亲和能对成核的影响: 浸润湿夹角—界面键的形成
晶粒间界的形成与多晶膜的生长:
杂质的影响:
非晶膜的形成:
(Si非晶膜、多晶膜和外延层的形成);9.2.几种物理沉积(PVD)方法
1)热阻加热蒸发镀膜 常规真空系统:
(Ch 12)
;油扩散泵原理:(P.245);
无油真空系统:
;分子泵;低温吸附泵;;溅射离子泵
(Ti升华泵);真空的测量
9.4,
热偶规
电离规
;坩埚: 与蒸发材料的粘润性和互溶度 钨、刚玉等
P302~303;;;;优点与缺点: 系统简单、可蒸镀各种材料、易做厚膜 纯度不够高、镀膜速率不易控制、均匀性较差(星型夹具)
平衡蒸气压:
合
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